基于pSOS的单板智能综合测试系统开发
| 摘要 | 第1-4页 |
| ABSTRACT | 第4-5页 |
| 术语缩略对照表 | 第5-6页 |
| 目录 | 第6-8页 |
| 第一章 绪论 | 第8-22页 |
| ·课题的研究背景 | 第8-9页 |
| ·仪器仪表的研究现状 | 第9-15页 |
| ·传统仪器仪表 | 第10-11页 |
| ·智能仪器仪表 | 第11-12页 |
| ·综合仪器仪表 | 第12-15页 |
| ·检测方法的研究现状 | 第15-20页 |
| ·检测方法的分类 | 第16-18页 |
| ·本课题所采用的检测方法 | 第18-20页 |
| ·课题的研究目的与意义 | 第20页 |
| ·本文的主要工作及其内容安排 | 第20-22页 |
| 第二章 智能综合测试系统的开发方案 | 第22-33页 |
| ·系统开发方案 | 第22-23页 |
| ·系统硬件设计方案 | 第23-25页 |
| ·ZXMP S325设备 | 第23-24页 |
| ·CPCI测试平台 | 第24-25页 |
| ·系统软件设计方案 | 第25-32页 |
| ·上位机测试程序 | 第25-26页 |
| ·下位机测试程序 | 第26-32页 |
| ·上下位机通讯协议 | 第32页 |
| ·本章小结 | 第32-33页 |
| 第三章 LPS16A单板的工作原理与测试环境 | 第33-53页 |
| ·交叉时钟板 LPS16A的原理 | 第33-37页 |
| ·线路处理与高低阶交叉工作原理 | 第33-34页 |
| ·时钟单元工作原理 | 第34-35页 |
| ·FPGA单元的功能 | 第35-37页 |
| ·硬件测试环境的设计 | 第37-39页 |
| ·高速信号线 | 第39页 |
| ·业务总线 | 第39-41页 |
| ·测试项目及测试原理 | 第41-52页 |
| ·电路信号的测试 | 第41-46页 |
| ·时钟信号的测试 | 第46-48页 |
| ·业务信号的测试 | 第48-52页 |
| ·本章小结 | 第52-53页 |
| 第四章 综合测试软件系统的设计与实现 | 第53-63页 |
| ·软件系统的总体结构 | 第53-54页 |
| ·上位机程序设计与实现 | 第54-55页 |
| ·下位机程序设计与实现 | 第55-62页 |
| ·下位机测试程序总流程图 | 第56-57页 |
| ·各任务模块处理流程图 | 第57-61页 |
| ·测试命令定义 | 第61-62页 |
| ·本章小结 | 第62-63页 |
| 第五章 系统调试与性能检测 | 第63-70页 |
| ·系统调试 | 第63-64页 |
| ·性能检测 | 第64-69页 |
| ·覆盖率 | 第64-68页 |
| ·可靠性 | 第68-69页 |
| ·本章小结 | 第69-70页 |
| 第六章 结论与展望 | 第70-72页 |
| ·结论 | 第70-71页 |
| ·下一步工作展望 | 第71-72页 |
| 参考文献 | 第72-77页 |
| 致谢 | 第77-78页 |
| 攻读学位期间主要的研究成果 | 第78页 |
