极紫外太阳望远镜的检测方法研究
| 摘要 | 第1-7页 |
| Abstract | 第7-13页 |
| 第一章 绪论 | 第13-25页 |
| ·引言 | 第13页 |
| ·太阳活动观测 | 第13-17页 |
| ·太阳结构 | 第14-15页 |
| ·太阳活动 | 第15-17页 |
| ·空间太阳望远镜的发展状况 | 第17-23页 |
| ·国外观测仪器 | 第18-22页 |
| ·中国太阳观测 | 第22-23页 |
| ·研究内容及意义 | 第23-25页 |
| ·研究工作意义 | 第23页 |
| ·研究内容 | 第23-25页 |
| 第二章 EUV 望远镜装调技术研究 | 第25-44页 |
| ·引言 | 第25页 |
| ·EUV 望远镜光学设计 | 第25-29页 |
| ·装调导致的几何像差分析 | 第29-31页 |
| ·EUV 望远镜的装调 | 第31-42页 |
| ·计算机辅助装调原理 | 第32-35页 |
| ·灵敏度矩阵A | 第35-36页 |
| ·实际装调过程 | 第36-38页 |
| ·装调结果 | 第38-42页 |
| ·失调量引起的几何角分辨率变化 | 第42-43页 |
| ·小结 | 第43-44页 |
| 第三章 EUV 望远镜杂散光研究 | 第44-66页 |
| ·引言 | 第44页 |
| ·光学系统杂散光 | 第44-47页 |
| ·光学系统杂散光来源 | 第44-45页 |
| ·杂散光指标 | 第45-47页 |
| ·EUV 望远镜的杂光测量 | 第47-54页 |
| ·测量原理——杂光系数V 与PST 的关系 | 第47-50页 |
| ·PST 测量实验设计 | 第50-53页 |
| ·测量结果 | 第53-54页 |
| ·望远镜杂散光分析 | 第54-59页 |
| ·EUV 望远镜杂光来源 | 第55-56页 |
| ·消杂光设计 | 第56-59页 |
| ·遮光罩的建模和测量结果 | 第59-63页 |
| ·Tracepro 软件模拟计算 | 第59-62页 |
| ·PST 的实际测量 | 第62-63页 |
| ·EUV 望远镜杂光影响分析 | 第63-65页 |
| ·小结 | 第65-66页 |
| 第四章 望远镜系统性能检测 | 第66-84页 |
| ·引言 | 第66-67页 |
| ·光学系统传输效率 | 第67-73页 |
| ·单色仪的定标 | 第67-68页 |
| ·30.4nm 多层膜反射率 | 第68-71页 |
| ·30.4nm 带通滤光片的透射率测量 | 第71-72页 |
| ·EUV 望远镜的传输效率 | 第72-73页 |
| ·望远镜成像检测 | 第73-82页 |
| ·空间分辨率检测装置 | 第73-75页 |
| ·分辨率检测原理 | 第75-78页 |
| ·分辨率板成像检测 | 第78-80页 |
| ·结果分析 | 第80-82页 |
| ·小结 | 第82-84页 |
| 第五章 工作波段散射对分辨率的影响 | 第84-112页 |
| ·引言 | 第84-87页 |
| ·散射理论简介 | 第85-86页 |
| ·EUV 多层膜反射镜的散射 | 第86-87页 |
| ·EUV 望远镜中的散射 | 第87-91页 |
| ·两个系数的计算式 | 第87-88页 |
| ·望远镜中的散射光传播路径 | 第88-90页 |
| ·多层膜反射镜散射和粗糙度关系 | 第90-91页 |
| ·粗糙度的测量和处理 | 第91-98页 |
| ·波前PSD 的定义 | 第91-92页 |
| ·光学元件功率谱密度PSD | 第92-93页 |
| ·功率谱密度的测量 | 第93-96页 |
| ·有效RMS 粗糙度σeff的计算 | 第96-98页 |
| ·散射对角分辨率影响的计算 | 第98-103页 |
| ·EUV 望远镜的散射模型 | 第98-100页 |
| ·散射角分辨率计算 | 第100-102页 |
| ·散射模型计算结果分析 | 第102-103页 |
| ·工作波段分辨率的估算 | 第103-111页 |
| ·光学系统孔径衍射的影响 | 第103-105页 |
| ·工作波段角分辨率的估算 | 第105-107页 |
| ·CCD 分辨率的影响 | 第107-111页 |
| ·小结 | 第111-112页 |
| 第六章 总结与展望 | 第112-116页 |
| ·论文工作总结 | 第112-113页 |
| ·展望 | 第113-116页 |
| 参考文献 | 第116-122页 |
| 在学期间学术成果情况 | 第122-123页 |
| 指导教师及作者简介 | 第123-124页 |
| 致谢 | 第124页 |
