| 摘要 | 第4-5页 |
| Abstract | 第5-6页 |
| 第一章 绪论 | 第10-12页 |
| 1.1 课题研究背景与意义 | 第10页 |
| 1.2 国内外研究现状 | 第10-11页 |
| 1.3 论文的主要研究内容和结构安排 | 第11-12页 |
| 第二章 光纤概述 | 第12-23页 |
| 2.1 光纤发展的历史 | 第12-17页 |
| 2.1.1 光的全反射 | 第12-13页 |
| 2.1.2 近代光纤发展史 | 第13-15页 |
| 2.1.3 现代光纤商用历程 | 第15-17页 |
| 2.2 光缆的基本介绍 | 第17-23页 |
| 2.2.1 光纤通信的基本原理 | 第17-19页 |
| 2.2.2 光缆的主要结构 | 第19页 |
| 2.2.3 光缆的命名方法和以及光缆标准色谱排列顺序 | 第19-23页 |
| 第三章 光缆线路大衰耗点产生的原因及处理方法 | 第23-35页 |
| 3.1 光缆大衰耗点产生的几种现象和原因 | 第23-28页 |
| 3.1.1 敷设时产生的大衰耗点 | 第23-25页 |
| 3.1.2 接续过程中产生的大衰耗点 | 第25-27页 |
| 3.1.3 运输和装卸造成的大衰耗点 | 第27-28页 |
| 3.1.4 成端过程中产生的大衰耗点 | 第28页 |
| 3.2 光缆大衰耗点的查找定位和处理 | 第28-32页 |
| 3.2.1 大衰耗点产生的常规位置 | 第28-31页 |
| 3.2.2 大衰耗点的处理 | 第31-32页 |
| 3.3 关于光纤老化问题的分析 | 第32-35页 |
| 第四章 线路维护测试仪表的使用方法 | 第35-48页 |
| 4.1 人工设置测量参数 | 第35-37页 |
| 4.1.1 波长选择(λ)和脉宽 | 第35-36页 |
| 4.1.2 测量范围和平均时间 | 第36页 |
| 4.1.3 光纤参数 | 第36-37页 |
| 4.2 光纤质量概述 | 第37-41页 |
| 4.2.1 光纤质量的简单判别 | 第37-38页 |
| 4.2.2 折射率与散射系数的校正和鬼影的识别与处理 | 第38-40页 |
| 4.2.3 附加光纤的使用 | 第40-41页 |
| 4.3 测试误差的主要因素 | 第41-44页 |
| 4.3.1 设定仪表的折射率偏差产生的误差 | 第41-42页 |
| 4.3.2 熔接机显示推断衰耗与实际OTDR测试的区别 | 第42-44页 |
| 4.4 关于炭黑含量的测试数据报告 | 第44-46页 |
| 4.5 关于氧化诱导的测试数据报告 | 第46-48页 |
| 第五章 光缆线路施工接续标准化作业流程 | 第48-56页 |
| 5.1 光纤接续工序和光纤接续损耗的测量方法 | 第48-49页 |
| 5.2 光纤束及光纤的盘留及光纤熔接的流程 | 第49-50页 |
| 5.3 工艺操作 | 第50-54页 |
| 5.3.1 准备工作 | 第50页 |
| 5.3.2 护层开剥 | 第50-51页 |
| 5.3.3 清洁缆芯及光纤 | 第51-52页 |
| 5.3.4 预留盘、盘留板安装 | 第52页 |
| 5.3.5 光纤接续及测试 | 第52页 |
| 5.3.6 光纤的盘留 | 第52-53页 |
| 5.3.7 接头盒组装密封 | 第53-54页 |
| 5.4 质量控制 | 第54-56页 |
| 5.4.1 影响质量的因素分析 | 第54页 |
| 5.4.2 质量检查 | 第54-55页 |
| 5.4.3 安全注意事项 | 第55-56页 |
| 第六章 总结与展望 | 第56-58页 |
| 6.1 论文总结 | 第56页 |
| 6.2 工作展望 | 第56-58页 |
| 参考文献 | 第58-60页 |
| 作者简介 | 第60-61页 |
| 致谢 | 第61页 |
