| 摘要 | 第4-6页 |
| Abstract | 第6-8页 |
| 1 绪论 | 第11-26页 |
| 1.1 研究背景及意义 | 第11-13页 |
| 1.2 综合孔径辐射测量国内外研究概况 | 第13-22页 |
| 1.3 本文的主要创新性 | 第22-24页 |
| 1.4 论文的组织与结构 | 第24-26页 |
| 2 综合孔径辐射测量及与一般阵列处理模型的统一数学框架 | 第26-47页 |
| 2.1 引言 | 第26-27页 |
| 2.2 微波辐射测量基础 | 第27-30页 |
| 2.3 综合孔径辐射测量基本原理 | 第30-38页 |
| 2.4 综合孔径辐射测量与一般阵列处理模型的统一数学框架 | 第38-46页 |
| 2.5 本章小结 | 第46-47页 |
| 3 基于阵列因子子综合的综合孔径辐射计成像方方法 | 第47-84页 |
| 3.1 引言 | 第47-49页 |
| 3.2 综合孔径辐射计的等效虚拟天线阵模型 | 第49-51页 |
| 3.3 基于阵列因子综合的综合孔径辐射计成像方法 | 第51-56页 |
| 3.4 阵列因子综合与传统窗函数的数学关系及权向量标度化处理 | 第56-58页 |
| 3.5 方法总结与说明 | 第58-59页 |
| 3.6 仿真实验分析 | 第59-67页 |
| 3.7 SMOS卫星实测数据实验结果及应用分析 | 第67-82页 |
| 3.8 本章小结 | 第82-84页 |
| 4 基于增广协方差矩阵的高分辨率射频干扰源定位方方法 | 第84-122页 |
| 4.1 引言 | 第84-85页 |
| 4.2 问题描述 | 第85-87页 |
| 4.3 基于增广协方差矩阵的射频干扰源定位方法 | 第87-94页 |
| 4.4 SMOS卫星实测数据实验结果及应用分析 | 第94-114页 |
| 4.5 其它扩展――基于增广协方差矩阵的综合孔径成像应用 | 第114-120页 |
| 4.6 本章小结 | 第120-122页 |
| 5 基于压缩感知的高分辨率射频干扰源定位方方法 | 第122-149页 |
| 5.1 引言 | 第122-123页 |
| 5.2 压缩感知原理概述 | 第123-125页 |
| 5.3 综合孔径干涉测量模型 | 第125-126页 |
| 5.4 基于压缩感知的射频干扰源定位方法 | 第126-131页 |
| 5.5 仿真实验分析 | 第131-136页 |
| 5.6 SMOS卫星实测数据实验结果及应用分析 | 第136-148页 |
| 5.7 本章小结 | 第148-149页 |
| 6 总结与展望 | 第149-153页 |
| 6.1 全文总结 | 第149-151页 |
| 6.2 工作展望 | 第151-153页 |
| 致谢 | 第153-154页 |
| 参考文献 | 第154-169页 |
| 附录1 英文缩写词对照表 | 第169-170页 |
| 附录2 攻读博士学位期间公开发表的学术论文 | 第170页 |
