大功率白光LED荧光粉微涂覆检测关键问题研究
| 摘要 | 第5-6页 |
| Abstract | 第6-7页 |
| 第一章 绪论 | 第10-19页 |
| 1.1 研究背景及意义 | 第10-11页 |
| 1.2 课题来源和问题 | 第11-12页 |
| 1.3 国内外研究现状 | 第12-17页 |
| 1.3.1 LED荧光粉涂覆检测现状 | 第12-13页 |
| 1.3.2 工业品表面缺陷检测技术现状 | 第13-15页 |
| 1.3.3 薄层厚度检测技术现状 | 第15-17页 |
| 1.4 研究内容及难点 | 第17-18页 |
| 1.5 论文结构安排 | 第18-19页 |
| 第二章 检测方案及系统设计 | 第19-33页 |
| 2.1 检测方案设计 | 第19-23页 |
| 2.1.1 涂覆区域表面缺陷检测方案 | 第19-20页 |
| 2.1.2 涂覆厚度检测方案 | 第20-23页 |
| 2.2 硬件系统设计 | 第23-30页 |
| 2.2.1 硬件系统结构设计 | 第24-25页 |
| 2.2.2 硬件选型 | 第25-30页 |
| 2.3 软件系统设计 | 第30-32页 |
| 2.3.1 涂覆区域表面缺陷检测模块 | 第30-31页 |
| 2.3.2 涂覆厚度缺陷检测模块 | 第31-32页 |
| 2.4 本章小结 | 第32-33页 |
| 第三章 LED荧光粉涂覆区域表面缺陷检测 | 第33-57页 |
| 3.1 检测流程 | 第33页 |
| 3.2 基于阈值法与区域生长法结合的涂覆区域分割 | 第33-50页 |
| 3.2.1 传统区域生长法介绍 | 第35-37页 |
| 3.2.2 算法流程 | 第37-38页 |
| 3.2.3 预处理 | 第38-39页 |
| 3.2.4 颜色特征构建 | 第39-43页 |
| 3.2.5 阈值分割 | 第43-44页 |
| 3.2.6 区域生长 | 第44-48页 |
| 3.2.7 实验结果与分析 | 第48-50页 |
| 3.3 涂覆缺陷检测 | 第50-55页 |
| 3.3.1 待涂覆芯片区域定位 | 第50-53页 |
| 3.3.2 缺陷类型识别 | 第53-54页 |
| 3.3.3 实验结果与分析 | 第54-55页 |
| 3.4 本章小结 | 第55-57页 |
| 第四章 LED荧光粉涂覆厚度检测 | 第57-71页 |
| 4.1 基于斜射式激光三角法的涂覆厚度检测流程 | 第57-58页 |
| 4.2 基于重心扫描迭代拟合的激光光斑中心定位 | 第58-68页 |
| 4.2.1 算法流程 | 第58-59页 |
| 4.2.2 光斑区域提取 | 第59-60页 |
| 4.2.3 重心集构建 | 第60-61页 |
| 4.2.4 直线迭代拟合 | 第61-64页 |
| 4.2.5 光斑中心计算 | 第64-65页 |
| 4.2.6 光斑中心定位实验 | 第65-68页 |
| 4.3 厚度计算 | 第68-69页 |
| 4.4 测厚实验结果与分析 | 第69页 |
| 4.5 本章小结 | 第69-71页 |
| 总结与展望 | 第71-73页 |
| 参考文献 | 第73-77页 |
| 攻读硕士学位期间取得的研究成果 | 第77-78页 |
| 致谢 | 第78-79页 |
| 附件 | 第79页 |
