| 摘要 | 第4-5页 |
| Abstract | 第5页 |
| 1 绪论 | 第9-19页 |
| 1.1 选题背景及意义 | 第9-11页 |
| 1.2 KDP晶体生长研究现状 | 第11-13页 |
| 1.3 温度控制对KDP晶体生长的意义 | 第13-16页 |
| 1.4 论文主要研究内容 | 第16-17页 |
| 1.5 论文组织结构 | 第17-19页 |
| 2 温度控制过程系统建模与分析 | 第19-28页 |
| 2.1 温度控制对象建模 | 第19-22页 |
| 2.2 温度控制热量输入环节建模 | 第22-24页 |
| 2.3 温度控制热量输入时变特征 | 第24页 |
| 2.4 温度控制对象参数辨识 | 第24-27页 |
| 2.5 本章小结 | 第27-28页 |
| 3 KDP晶体生长温度控制器的设计 | 第28-41页 |
| 3.1 传统纯滞后环节控制算法及其在本控制问题中的优缺点 | 第28-30页 |
| 3.1.1 采用Smith预估校正控制算法的优势与缺点 | 第28-29页 |
| 3.1.2 采用大林控制算法的优势与缺点 | 第29-30页 |
| 3.2 目前现代控制算法及其本控制问题中的缺点 | 第30-31页 |
| 3.2.1 采用自校正控制算法的优势与缺点 | 第30页 |
| 3.2.2 采用最小二乘预估控制算法的优势与缺点 | 第30-31页 |
| 3.3 温度控制对象参数预估与校正 | 第31-38页 |
| 3.3.1 MPC控制算法的数学原理 | 第31-32页 |
| 3.3.2 MPC控制算法的基本流程 | 第32-35页 |
| 3.3.3 MPC控制算法的实现 | 第35-38页 |
| 3.4 计算机温度控制过程中采样周期的选取 | 第38-40页 |
| 3.5 本章小结 | 第40-41页 |
| 4 KDP晶体生长温度控制算法参数选择及仿真分析 | 第41-51页 |
| 4.1 DMC参数选择对控制系统性能的影响 | 第41-43页 |
| 4.2 KDP晶体生长温控系统Simulink仿真分析简介 | 第43-44页 |
| 4.3 KDP晶体温度控制仿真模块搭建 | 第44-47页 |
| 4.3.1 KDP晶体生长温度控制对象模块模型 | 第44页 |
| 4.3.2 KDP晶体生长温度控制算法模块模型 | 第44-46页 |
| 4.3.3 KDP晶体生长温度控制执行器模块模型 | 第46-47页 |
| 4.4 DMC控制算法参数整定 | 第47-50页 |
| 4.5 本章小结 | 第50-51页 |
| 5 KDP晶体生长温度控制系统开发 | 第51-64页 |
| 5.1 温度控制系统硬件设计 | 第51-54页 |
| 5.1.1 加热器选型 | 第51-52页 |
| 5.1.2 脉宽控制电路设计 | 第52页 |
| 5.1.3 温度信号传感器选型 | 第52-54页 |
| 5.2 温度控制系统Labview相关模块简介 | 第54-58页 |
| 5.2.1 Labview VISA串口通信 | 第55-57页 |
| 5.2.2 Labview队列 | 第57-58页 |
| 5.3 Labview上位机程序设计 | 第58-61页 |
| 5.3.1 初始化模块 | 第58页 |
| 5.3.2 温度数据采集模块 | 第58-59页 |
| 5.3.3 Labview占空比输出模块 | 第59-60页 |
| 5.3.4 Labview程序运行测试 | 第60-61页 |
| 5.4 温控系统实验数据分析 | 第61-63页 |
| 5.5 本章小结 | 第63-64页 |
| 结论 | 第64-65页 |
| 参考文献 | 第65-67页 |
| 攻读硕士学位期间发表学术论文情况 | 第67-68页 |
| 致谢 | 第68-69页 |
