基于真空探针台的红外焦平面自动测试的关键技术研究
| 摘要 | 第5-6页 |
| ABSTRACT | 第6-7页 |
| 第一章 绪论 | 第10-18页 |
| 1.1 引言 | 第10-11页 |
| 1.2 红外焦平面研究现状及发展趋势 | 第11-13页 |
| 1.2.1 红外焦平面研究现状 | 第11-12页 |
| 1.2.2 红外焦平面发展趋势 | 第12-13页 |
| 1.3 红外焦平面测试技术 | 第13-14页 |
| 1.3.1 封装后测试 | 第13-14页 |
| 1.3.2 封装前测试及像元级测试 | 第14页 |
| 1.4 本课题的研究意义 | 第14-16页 |
| 1.4.1 封装前测试 | 第14-15页 |
| 1.4.2 自动化测试 | 第15-16页 |
| 1.4.3 重要意义 | 第16页 |
| 1.5 本论文的主要内容及结构安排 | 第16-18页 |
| 第二章 红外焦平面自动测试技术的研究基础 | 第18-26页 |
| 2.1 红外焦平面的工作原理 | 第18-21页 |
| 2.1.1 红外敏感像元 | 第18-19页 |
| 2.1.2 读出电路 | 第19-21页 |
| 2.2 红外焦平面特性参数 | 第21-23页 |
| 2.2.1 无效像元 | 第21-22页 |
| 2.2.2 噪声 | 第22页 |
| 2.2.3 响应率 | 第22-23页 |
| 2.2.4 噪声等效温差 | 第23页 |
| 2.2.5 动态范围 | 第23页 |
| 2.3 红外焦平面自动测试系统整体结构 | 第23-25页 |
| 2.3.1 红外焦平面自动测试的设计要求 | 第24页 |
| 2.3.2 红外焦平面自动测试系统整体结构 | 第24-25页 |
| 2.4 本章小结 | 第25-26页 |
| 第三章 红外焦平面自动测试系统硬件部分 | 第26-38页 |
| 3.1 半自动真空探针台PAV200 | 第26-29页 |
| 3.1.1 半自动真空探针台概述 | 第26-27页 |
| 3.1.2 测试前探针台准备工作 | 第27-29页 |
| 3.2 硬件电路部分 | 第29-34页 |
| 3.2.1 高精度电源模块 | 第29-30页 |
| 3.2.2 USB控制模块 | 第30-32页 |
| 3.2.3 高精度低噪声的偏置电压模块 | 第32-33页 |
| 3.2.4 FPGA数字激励模块 | 第33页 |
| 3.2.5 模数转换模块 | 第33-34页 |
| 3.2.6 接口电路模块 | 第34页 |
| 3.3 数据采集部分 | 第34-35页 |
| 3.4 硬件测试电路调试 | 第35-37页 |
| 3.5 本章小结 | 第37-38页 |
| 第四章 红外焦平面自动测试系统软件部分 | 第38-43页 |
| 4.1 参数设置模块 | 第38-39页 |
| 4.2 测试控制模块 | 第39页 |
| 4.3 偏置电压调节模块 | 第39页 |
| 4.4 数据采集模块 | 第39页 |
| 4.5 数据分析模块 | 第39-40页 |
| 4.6 PAV200控制模块 | 第40-41页 |
| 4.6.1 各组件的控制 | 第40页 |
| 4.6.2 GPIB接口 | 第40-41页 |
| 4.7 软件各部分调试 | 第41-42页 |
| 4.8 本章小结 | 第42-43页 |
| 第五章 红外焦平面自动测试的关键技术 | 第43-53页 |
| 5.1 测试流程及控制 | 第43-48页 |
| 5.1.1 手动测试模式 | 第43-44页 |
| 5.1.2 自动测试模式 | 第44-48页 |
| 5.1.3 其他控制 | 第48页 |
| 5.2 偏置电压调节 | 第48-49页 |
| 5.3 红外焦平面性能判定 | 第49页 |
| 5.4 自动测试结果分析 | 第49-52页 |
| 5.4.1 自动测试结果展示 | 第49-51页 |
| 5.4.2 自动测试结果分析 | 第51-52页 |
| 5.5 本章小结 | 第52-53页 |
| 第六章 总结与展望 | 第53-56页 |
| 6.1 总结 | 第53-54页 |
| 6.2 展望 | 第54-56页 |
| 致谢 | 第56-57页 |
| 参考文献 | 第57-60页 |
| 附录 | 第60-73页 |
| 攻读硕士学位期间取得的成果 | 第73-74页 |
