火箭破盖力测试系统设计
摘要 | 第3-4页 |
Abstract | 第4页 |
1 绪论 | 第7-11页 |
1.1 选题背景 | 第7-8页 |
1.1.1 箱式发射技术的应用及其发展 | 第7-8页 |
1.1.2 储运发射箱的优点 | 第8页 |
1.1.3 冲破式密封盖性能要求 | 第8页 |
1.2 冲破式密封盖的国内外研究现状 | 第8-9页 |
1.3 本文的主要内容 | 第9-11页 |
1.3.1 本文的研究目的 | 第9-10页 |
1.3.2 主要工作 | 第10页 |
1.3.3 测试系统性能指标要求 | 第10-11页 |
2 传感器设计 | 第11-23页 |
2.1 传感器选择 | 第11页 |
2.2 PVDF压电薄膜材料 | 第11-15页 |
2.2.1 压电效应 | 第11-12页 |
2.2.2 PVDF压电方程 | 第12-13页 |
2.2.3 PVDF晶体结构 | 第13-14页 |
2.2.4 压电薄膜性能描述 | 第14-15页 |
2.3 PVDF压电薄膜传感器制作 | 第15-19页 |
2.3.1 制作传感器材料准备 | 第15-16页 |
2.3.2 传感器制作流程 | 第16-19页 |
2.3.3 PVDF压电传感器的性能指标 | 第19页 |
2.4 传感器动态标定 | 第19-22页 |
2.4.1 传感器动态标定方法 | 第19-21页 |
2.4.2 标定实验及标定曲线 | 第21-22页 |
2.5 本章小结 | 第22-23页 |
3 破盖力测试系统设计 | 第23-60页 |
3.1 测试系统硬件部分设计 | 第23-49页 |
3.1.1 信号调理电路设计 | 第23-30页 |
3.1.2 控制单元 | 第30-34页 |
3.1.3 AD/DA模块 | 第34-38页 |
3.1.4 I~2C接口 | 第38-41页 |
3.1.5 存储模块 | 第41-44页 |
3.1.6 通信模块 | 第44-47页 |
3.1.7 电源模块 | 第47-48页 |
3.1.8 电路板制作 | 第48-49页 |
3.2 测试系统软件设计 | 第49-59页 |
3.2.1 下位机主程序设计 | 第49-50页 |
3.2.2 A/D转换及数据存储子程序设计 | 第50页 |
3.2.3 串口通信子程序设计 | 第50-52页 |
3.2.4 上位机主程序设计 | 第52页 |
3.2.5 传感器标定程序设计 | 第52-54页 |
3.2.6 信号采集 | 第54-56页 |
3.2.7 信号数据处理 | 第56-57页 |
3.2.8 实时监测 | 第57-58页 |
3.2.9 设置与打印 | 第58-59页 |
3.3 本章小结 | 第59-60页 |
4 测试系统验证 | 第60-65页 |
4.1 破盖力模拟试验 | 第60-64页 |
4.2 本章小结 | 第64-65页 |
5 总结与展望 | 第65-67页 |
5.1 总结 | 第65页 |
5.2 展望 | 第65-67页 |
致谢 | 第67-68页 |
参考文献 | 第68-72页 |
附录 | 第72页 |