摘要 | 第5-6页 |
ABSTRACT | 第6页 |
符号对照表 | 第11-14页 |
第一章 绪论 | 第14-18页 |
1.1 宽带相控阵技术的研究意义 | 第14-15页 |
1.2 宽带相控阵天线的研究现状及背景 | 第15-17页 |
1.3 本文的组织结构及主要内容 | 第17-18页 |
第二章 阵列天线理论基础 | 第18-30页 |
2.1 相控阵天线扫描的基本原理 | 第18-24页 |
2.1.1 线阵扫描的基本原理 | 第18-22页 |
2.1.2 面阵扫描的基本原理 | 第22-24页 |
2.2 不等幅激励阵列 | 第24-28页 |
2.3 紧耦合天线的基本理论 | 第28-30页 |
第三章 紧耦合阵列单元仿真分析 | 第30-44页 |
3.1 偶极子单元设计 | 第30-34页 |
3.2 馈电结构的设计 | 第34-44页 |
3.2.1 巴伦设计 | 第34-38页 |
3.2.2 一体化功分器设计 | 第38-44页 |
第四章 有限阵列仿真分析 | 第44-58页 |
4.1 一维 1*16阵列仿真 | 第44-47页 |
4.2 二维 4*16阵列仿真分析 | 第47-58页 |
4.2.1 二维 4*16阵列未扫描状态下的特性 | 第47-49页 |
4.2.2 二维 4*16阵列E面扫描状态下的特性 | 第49-52页 |
4.2.3 二维 4*16阵列E面低副瓣扫描特性 | 第52-58页 |
第五章 一维阵列加工与测试 | 第58-66页 |
5.1 功分网络的设计与加工 | 第58-62页 |
5.1.1 微带功分器 | 第59-61页 |
5.1.2 一分十六功分器的仿真设计 | 第61-62页 |
5.2 加载一分十六功分器的阵列天线仿真 | 第62-63页 |
5.3 一维 1*16 阵列实物制作与测试 | 第63-66页 |
第六章 总结与展望 | 第66-68页 |
参考文献 | 第68-72页 |
致谢 | 第72-74页 |
作者简介 | 第74-75页 |