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紧耦合阵列天线设计及其低副瓣分析

摘要第5-6页
ABSTRACT第6页
符号对照表第11-14页
第一章 绪论第14-18页
    1.1 宽带相控阵技术的研究意义第14-15页
    1.2 宽带相控阵天线的研究现状及背景第15-17页
    1.3 本文的组织结构及主要内容第17-18页
第二章 阵列天线理论基础第18-30页
    2.1 相控阵天线扫描的基本原理第18-24页
        2.1.1 线阵扫描的基本原理第18-22页
        2.1.2 面阵扫描的基本原理第22-24页
    2.2 不等幅激励阵列第24-28页
    2.3 紧耦合天线的基本理论第28-30页
第三章 紧耦合阵列单元仿真分析第30-44页
    3.1 偶极子单元设计第30-34页
    3.2 馈电结构的设计第34-44页
        3.2.1 巴伦设计第34-38页
        3.2.2 一体化功分器设计第38-44页
第四章 有限阵列仿真分析第44-58页
    4.1 一维 1*16阵列仿真第44-47页
    4.2 二维 4*16阵列仿真分析第47-58页
        4.2.1 二维 4*16阵列未扫描状态下的特性第47-49页
        4.2.2 二维 4*16阵列E面扫描状态下的特性第49-52页
        4.2.3 二维 4*16阵列E面低副瓣扫描特性第52-58页
第五章 一维阵列加工与测试第58-66页
    5.1 功分网络的设计与加工第58-62页
        5.1.1 微带功分器第59-61页
        5.1.2 一分十六功分器的仿真设计第61-62页
    5.2 加载一分十六功分器的阵列天线仿真第62-63页
    5.3 一维 1*16 阵列实物制作与测试第63-66页
第六章 总结与展望第66-68页
参考文献第68-72页
致谢第72-74页
作者简介第74-75页

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