| 摘要 | 第4-6页 |
| Abstract | 第6-7页 |
| 1 绪论 | 第10-17页 |
| 1.1 研究背景和意义 | 第10页 |
| 1.2 国内外研究概述 | 第10-16页 |
| 1.3 本文主要研究内容 | 第16-17页 |
| 2 纳米晶触头电性能研究方案 | 第17-23页 |
| 2.1 纳米晶CuCr25和AgSnO_2材料的制备和性能 | 第17-18页 |
| 2.2 触头电寿命对比实验及电镜测试 | 第18-21页 |
| 2.3 本章小结 | 第21-23页 |
| 3 纳米晶CuCr25和AgSnO_2触头燃弧时间特性研究 | 第23-44页 |
| 3.1 分断燃弧时间结果及分析 | 第23-32页 |
| 3.2 闭合燃弧时间结果及分析 | 第32-40页 |
| 3.3 燃弧时间规律分析和讨论 | 第40-42页 |
| 3.4 本章小结 | 第42-44页 |
| 4 纳米晶CuCr25和AgSnO_2触头表面劣化研究 | 第44-56页 |
| 4.1 纳米晶和微晶CuCr25触头形貌特点及分析 | 第44-47页 |
| 4.2 真空和空气中纳米晶AgSnO_2触头形貌特点及分析 | 第47-50页 |
| 4.3 触头表面元素成分分布规律研究 | 第50-54页 |
| 4.4 本章小结 | 第54-56页 |
| 5 纳米晶CuCr25和AgSnO_2触头抗熔焊性能研究 | 第56-65页 |
| 5.1 纳米晶/微晶CuCr25及真空/空气中AgSnO_2触头抗熔焊结果 | 第56-57页 |
| 5.2 闭合和分离熔焊的分析和探讨 | 第57-59页 |
| 5.3 触头凸尖测试装置的设计 | 第59-64页 |
| 5.4 本章小结 | 第64-65页 |
| 6 总结与展望 | 第65-67页 |
| 6.1 全文总结 | 第65-66页 |
| 6.2 展望 | 第66-67页 |
| 致谢 | 第67-68页 |
| 参考文献 | 第68-73页 |
| 附录1 照片计算处理MATLAB程序代码（部分） | 第73-75页 |
| 附录2 攻读硕士学位期间发表的论文 | 第75页 |
