摘要 | 第4-6页 |
Abstract | 第6-7页 |
第1章 绪论 | 第11-14页 |
1.1 研究背景 | 第11页 |
1.2 研究意义 | 第11-12页 |
1.3 研究现状 | 第12页 |
1.4 主要工作内容 | 第12-14页 |
第2章 TOF-SIMS数据处理算法研究 | 第14-26页 |
2.1 引言 | 第14页 |
2.2 质量数标定 | 第14-17页 |
2.2.1 质量数标定理论基础 | 第14-15页 |
2.2.2 质量数标定 | 第15-16页 |
2.2.3 质量数标定实验 | 第16-17页 |
2.3 谱峰识别 | 第17-21页 |
2.3.1 连续小波变换寻峰原理 | 第17-18页 |
2.3.2 尺度参数计算 | 第18-19页 |
2.3.3 谱峰识别流程 | 第19-20页 |
2.3.4 谱峰识别实验 | 第20-21页 |
2.4 峰特征信息提取 | 第21-22页 |
2.5 其他算法 | 第22-25页 |
2.5.1 本底扣除 | 第22页 |
2.5.2 平滑滤波 | 第22-24页 |
2.5.3 信噪比计算 | 第24页 |
2.5.4 统计分析计算 | 第24-25页 |
2.6 本章小结 | 第25-26页 |
第3章 TOF-SIMS数据分析软件开发 | 第26-34页 |
3.1 引言 | 第26页 |
3.2 TOF-SIMS数据分析软件的开发环境介绍 | 第26-27页 |
3.2.1 数据分析软件的开发环境 | 第26页 |
3.2.2 Matlab 与 C | 第26-27页 |
3.3 软件总体设计 | 第27-28页 |
3.3.1 系统的功能需求 | 第27页 |
3.3.2 软件架构设计 | 第27-28页 |
3.4 系统各部分设计 | 第28-31页 |
3.4.1 模型部分 | 第28-30页 |
3.4.2 视图部分 | 第30-31页 |
3.4.3 控制部分 | 第31页 |
3.5 软件测试 | 第31-32页 |
3.6 本章小结 | 第32-34页 |
第4章 TOF-SIMS铜同位素分析研究 | 第34-49页 |
4.1 引言 | 第34页 |
4.2 实验样品 | 第34-35页 |
4.2.1 实验样品选择 | 第34-35页 |
4.2.2 实验样品制备 | 第35页 |
4.3 仪器与分析条件的建立 | 第35-37页 |
4.3.1 仪器介绍 | 第35-36页 |
4.3.2 实验分析条件的建立 | 第36-37页 |
4.4 分析方法 | 第37-38页 |
4.5 实验结果与讨论 | 第38-43页 |
4.5.1 TOF-SIMS仪器的性能测试结果与讨论 | 第38-40页 |
4.5.2 样品中铜同位素测试结果与讨论 | 第40-43页 |
4.6 样品位置对同位素分析精度的影响 | 第43-48页 |
4.6.1 实验设计 | 第43-45页 |
4.6.2 分析结果 | 第45-46页 |
4.6.3 边缘效应产生原因 | 第46-48页 |
4.7 本章小结 | 第48-49页 |
第5章 TOF-SIMS稀土元素分析研究 | 第49-56页 |
5.1 引言 | 第49-50页 |
5.2 实验仪器及样品 | 第50-51页 |
5.2.1 实验仪器 | 第50-51页 |
5.2.2 实验样品选择与制备 | 第51页 |
5.3 实验结果与讨论 | 第51-55页 |
5.3.1 仪器性能测试 | 第51-53页 |
5.3.2 样品中稀土元素分析结果与讨论 | 第53-55页 |
5.4 本章小结 | 第55-56页 |
第6章 全文总结 | 第56-58页 |
6.1 本文主要的工作 | 第56页 |
6.2 存在不足及下一步工作 | 第56-58页 |
参考文献 | 第58-61页 |
作者简介及科研成果 | 第61-62页 |
致谢 | 第62页 |