| 摘要 | 第5-6页 |
| Abstract | 第6页 |
| 第一章 绪论 | 第9-17页 |
| 1.1 研究背景与意义 | 第9-10页 |
| 1.2 国内外研究现状与发展趋势 | 第10-14页 |
| 1.3 研究内容与设计指标 | 第14-15页 |
| 1.3.1 研究内容 | 第14页 |
| 1.3.2 设计指标 | 第14-15页 |
| 1.4 论文组织结构 | 第15-17页 |
| 第二章 APD器件特性和电流检测原理 | 第17-29页 |
| 2.1 APD器件特性及应用背景 | 第17-20页 |
| 2.1.1 APD器件特性 | 第17-19页 |
| 2.1.2 应用背景 | 第19-20页 |
| 2.2 APD电流检测电路要求 | 第20-22页 |
| 2.2.1 盖革模式 | 第20-21页 |
| 2.2.2 线性模式 | 第21-22页 |
| 2.3 接口电路架构 | 第22-28页 |
| 2.3.1 盖革模式电流检测电路架构 | 第22-26页 |
| 2.3.2 线性模式电流检测电路架构 | 第26-28页 |
| 2.4 本章小结 | 第28-29页 |
| 第三章 基于非均匀性抑制的盖革模式电流检测电路设计 | 第29-65页 |
| 3.1 APD击穿电压非均匀性抑制方法 | 第29-32页 |
| 3.1.1 击穿电压非均匀的影响和抑制方法 | 第29-30页 |
| 3.1.2 电路架构对比 | 第30-32页 |
| 3.2 GM APD电流检测电路设计 | 第32-55页 |
| 3.2.1 GM APD电流检测电路架构 | 第32-33页 |
| 3.2.2 数模转换器的设计与仿真 | 第33-38页 |
| 3.2.3 充电架构的设计与仿真 | 第38-44页 |
| 3.2.4 比较器的设计与仿真 | 第44-49页 |
| 3.2.5 多像素反偏电压调节架构 | 第49-50页 |
| 3.2.6 整体系统前仿真 | 第50-55页 |
| 3.3 版图设计与后仿真 | 第55-63页 |
| 3.3.1 版图设计 | 第55-59页 |
| 3.3.2 后仿真 | 第59-63页 |
| 3.4 本章小结 | 第63-65页 |
| 第四章 线性模式电流检测电路设计 | 第65-87页 |
| 4.1 跨阻放大器 | 第65-71页 |
| 4.1.1 闭环跨阻放大器结构分析 | 第65-68页 |
| 4.1.2 带输入缓冲的闭环跨阻放大器 | 第68-69页 |
| 4.1.3 RGC调节的开环跨阻放大器 | 第69-71页 |
| 4.2 LM APD电流检测电路设计 | 第71-83页 |
| 4.2.0 LM APD电流检测电路 | 第71页 |
| 4.2.1 跨阻放大器关键设计 | 第71-73页 |
| 4.2.2 单级放大器电路设计 | 第73-76页 |
| 4.2.3 差分放大器电路设计 | 第76-79页 |
| 4.2.4 比较器电路设计 | 第79-81页 |
| 4.2.5 整体仿真 | 第81-83页 |
| 4.3 版图设计与后仿真 | 第83-85页 |
| 4.3.1 版图设计 | 第83-84页 |
| 4.3.2 后仿真 | 第84-85页 |
| 4.4 本章小结 | 第85-87页 |
| 第五章 测试与分析 | 第87-103页 |
| 5.1 测试环境与平台 | 第87-92页 |
| 5.2 功能测试 | 第92-95页 |
| 5.2.1 无光情况测试与分析 | 第93-94页 |
| 5.2.2 有光情况测试与分析 | 第94-95页 |
| 5.3 性能测试 | 第95-100页 |
| 5.3.1 淬灭电路性能测试 | 第95-97页 |
| 5.3.2 偏压调节电路性能测试 | 第97-100页 |
| 5.3.3 测试总结 | 第100页 |
| 5.4 本章小结 | 第100-103页 |
| 第六章 总结与展望 | 第103-105页 |
| 6.1 总结 | 第103-104页 |
| 6.2 展望 | 第104-105页 |
| 参考文献 | 第105-109页 |
| 致谢 | 第109-111页 |
| 攻读硕士学位期间发表的论文 | 第111页 |