XRF分析技术在铁矿石品质检测中的应用研究
摘要 | 第1-6页 |
Abstract | 第6-10页 |
第1章 引言 | 第10-19页 |
·选题依据及研究意义 | 第10-14页 |
·铁矿石的特点及分类 | 第10-11页 |
·铁矿石成分的分析方法 | 第11-14页 |
·国内外研究现状 | 第14-18页 |
·XRF 技术的重要发展史 | 第14页 |
·XRF 分析仪的发展及在钢铁工业上的应用 | 第14-18页 |
·研究内容 | 第18页 |
本章小结 | 第18-19页 |
第2章 XRF 分析技术的理论基础 | 第19-25页 |
·定性分析的物理基础 | 第19-22页 |
·莫塞莱定律 | 第19-20页 |
·X 射线与物质的相互作用 | 第20-22页 |
·定量分析的基本方程 | 第22-24页 |
·XRF 分析仪的结构及工作原理 | 第24页 |
本章小结 | 第24-25页 |
第3章 实验方案与实验设备 | 第25-39页 |
·X 射线探测器的选择 | 第25-29页 |
·闪烁计数器 | 第25-26页 |
·正比计数器 | 第26-27页 |
·半导体探测器 | 第27-28页 |
·X 射线探测器的性能比较及选择 | 第28-29页 |
·激发装置的选择 | 第29-33页 |
·放射性同位素源 | 第29-30页 |
·X 射线管 | 第30-32页 |
·激发装置优缺点的比较及选择 | 第32-33页 |
·XRF 分析仪的选择及精确度评价 | 第33-37页 |
·IED-2000D 高精度快速分析仪 | 第33-34页 |
·精确度的评价 | 第34-36页 |
·谱漂的校正 | 第36-37页 |
·压样装置的选择 | 第37-38页 |
本章小结 | 第38-39页 |
第4章 样品的制备及影响因素的分析 | 第39-48页 |
·铁矿石粉末状样品的制备 | 第39-44页 |
·均匀性的研究 | 第39-40页 |
·样品饱和厚度的试验研究 | 第40-41页 |
·制样压力的影响试验 | 第41-44页 |
·水份效应的分析研究 | 第44页 |
·标准样品 | 第44-45页 |
·基体效应校正技术 | 第45-47页 |
·基体效应分析 | 第45页 |
·基体效应校正 | 第45-47页 |
本章小结 | 第47-48页 |
第5章 实验结果与分析 | 第48-57页 |
·混合铁精矿中Fe 含量的测定 | 第48-50页 |
·再磨铁精矿中Fe 含量的测定 | 第50-52页 |
·氧化矿原矿样品中Fe 含量的测定 | 第52-53页 |
·永磁尾矿样品中Fe 含量的测定 | 第53-56页 |
本章小结 | 第56-57页 |
第6章 误差分析及质量评价 | 第57-61页 |
·误差分析 | 第57-59页 |
·X 荧光计数的统计分布 | 第57-58页 |
·X 荧光测量过程中的统计误差 | 第58-59页 |
·其它误差 | 第59页 |
·质量评价 | 第59-60页 |
·准确度评价 | 第59-60页 |
·灵敏度 | 第60页 |
本章小结 | 第60-61页 |
结论 | 第61-63页 |
致谢 | 第63-64页 |
参考文献 | 第64-67页 |
攻读硕士学位期间所取得的学术成果 | 第67页 |