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VMware ESXi PCIe SSD驱动测试分析与设计

摘要第4-5页
ABSTRACT第5-6页
第一章 引言第10-14页
    1.1 课题背景第10-11页
    1.2 PCIe SSD的发展第11页
    1.3 课题任务第11-12页
        1.3.1 课题内容第11-12页
        1.3.2 本人承担任务第12页
    1.4 论文结构第12-14页
第二章 相关内容和测试工具介绍第14-28页
    2.1 测试技术概论第14-16页
        2.1.1 软件测试介绍第14页
        2.1.2 软件测试方法第14-16页
        2.1.3 软件测试类型第16页
    2.2 测试产品背景第16-24页
        2.2.1 VMware虚拟技术介绍第16-19页
        2.2.2 VMware ESXi介绍第19-20页
        2.2.3 VMware ESXi存储类型第20-23页
        2.2.4 VMware ESXi存储驱动第23-24页
    2.3 Micron P320介绍第24-25页
    2.4 测试工具介绍第25-27页
        2.4.1 IOzone第25-26页
        2.4.2 Bonnie第26页
        2.4.3 SG_reset第26-27页
    2.5 本章小结第27-28页
第三章 mtip32xx-native驱动测试需求分析第28-45页
    3.1 测试项目介绍第28-34页
        3.1.1 测试环境搭建第28-29页
        3.1.2 创建虚拟机第29-34页
    3.2 功能性需求分析第34-40页
        3.2.1 识别和读写设备第34-36页
        3.2.2 加载与卸载功能第36-37页
        3.2.3 自我检测分析和报告第37-39页
        3.2.4 热插拔功能第39-40页
    3.3 非功能性需求分析第40-44页
        3.3.1 内存泄露第40-41页
        3.3.2 异常处理第41-42页
        3.3.3 压力测试第42-43页
        3.3.4 性能测试第43-44页
    3.4 本章小结第44-45页
第四章 mtip32xx-native驱动测试用例设计与实现第45-68页
    4.1 功能性测试用例设计第45-58页
        4.1.1 识别和读写设备测试用例设计第45-48页
        4.1.2 加载与卸载功能测试用例设计第48-53页
        4.1.3 SMART功能测试用例设计第53-55页
        4.1.4 热插拔功能测试用例设计第55-58页
    4.2 非功能性测试用例设计第58-65页
        4.2.1 内存泄露测试用例设计第58-60页
        4.2.2 异常处理测试用例设计第60-62页
        4.2.3 压力测试用例设计第62-64页
        4.2.4 性能测试用例设计第64-65页
    4.3 测试用例实现第65-67页
    4.4 本章小结第67-68页
第五章 测试脚本与结果统计第68-76页
    5.1 测试日志检查脚本第68-73页
        5.1.1 内存泄露测试检查脚本第68-69页
        5.1.2 SG_reset测试检查脚本第69-70页
        5.1.3 IOzone性能测试检查脚本第70-71页
        5.1.4 Bonnie性能测试检查脚本第71-73页
    5.2 测试结果统计第73-75页
    5.3 本章小结第75-76页
第六章 结束语第76-77页
    6.1 论文工作总结第76页
    6.2 问题和展望第76-77页
参考文献第77-78页
致谢第78页

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