摘要 | 第4-5页 |
ABSTRACT | 第5-6页 |
第一章 引言 | 第10-14页 |
1.1 课题背景 | 第10-11页 |
1.2 PCIe SSD的发展 | 第11页 |
1.3 课题任务 | 第11-12页 |
1.3.1 课题内容 | 第11-12页 |
1.3.2 本人承担任务 | 第12页 |
1.4 论文结构 | 第12-14页 |
第二章 相关内容和测试工具介绍 | 第14-28页 |
2.1 测试技术概论 | 第14-16页 |
2.1.1 软件测试介绍 | 第14页 |
2.1.2 软件测试方法 | 第14-16页 |
2.1.3 软件测试类型 | 第16页 |
2.2 测试产品背景 | 第16-24页 |
2.2.1 VMware虚拟技术介绍 | 第16-19页 |
2.2.2 VMware ESXi介绍 | 第19-20页 |
2.2.3 VMware ESXi存储类型 | 第20-23页 |
2.2.4 VMware ESXi存储驱动 | 第23-24页 |
2.3 Micron P320介绍 | 第24-25页 |
2.4 测试工具介绍 | 第25-27页 |
2.4.1 IOzone | 第25-26页 |
2.4.2 Bonnie | 第26页 |
2.4.3 SG_reset | 第26-27页 |
2.5 本章小结 | 第27-28页 |
第三章 mtip32xx-native驱动测试需求分析 | 第28-45页 |
3.1 测试项目介绍 | 第28-34页 |
3.1.1 测试环境搭建 | 第28-29页 |
3.1.2 创建虚拟机 | 第29-34页 |
3.2 功能性需求分析 | 第34-40页 |
3.2.1 识别和读写设备 | 第34-36页 |
3.2.2 加载与卸载功能 | 第36-37页 |
3.2.3 自我检测分析和报告 | 第37-39页 |
3.2.4 热插拔功能 | 第39-40页 |
3.3 非功能性需求分析 | 第40-44页 |
3.3.1 内存泄露 | 第40-41页 |
3.3.2 异常处理 | 第41-42页 |
3.3.3 压力测试 | 第42-43页 |
3.3.4 性能测试 | 第43-44页 |
3.4 本章小结 | 第44-45页 |
第四章 mtip32xx-native驱动测试用例设计与实现 | 第45-68页 |
4.1 功能性测试用例设计 | 第45-58页 |
4.1.1 识别和读写设备测试用例设计 | 第45-48页 |
4.1.2 加载与卸载功能测试用例设计 | 第48-53页 |
4.1.3 SMART功能测试用例设计 | 第53-55页 |
4.1.4 热插拔功能测试用例设计 | 第55-58页 |
4.2 非功能性测试用例设计 | 第58-65页 |
4.2.1 内存泄露测试用例设计 | 第58-60页 |
4.2.2 异常处理测试用例设计 | 第60-62页 |
4.2.3 压力测试用例设计 | 第62-64页 |
4.2.4 性能测试用例设计 | 第64-65页 |
4.3 测试用例实现 | 第65-67页 |
4.4 本章小结 | 第67-68页 |
第五章 测试脚本与结果统计 | 第68-76页 |
5.1 测试日志检查脚本 | 第68-73页 |
5.1.1 内存泄露测试检查脚本 | 第68-69页 |
5.1.2 SG_reset测试检查脚本 | 第69-70页 |
5.1.3 IOzone性能测试检查脚本 | 第70-71页 |
5.1.4 Bonnie性能测试检查脚本 | 第71-73页 |
5.2 测试结果统计 | 第73-75页 |
5.3 本章小结 | 第75-76页 |
第六章 结束语 | 第76-77页 |
6.1 论文工作总结 | 第76页 |
6.2 问题和展望 | 第76-77页 |
参考文献 | 第77-78页 |
致谢 | 第78页 |