基于n-back范式工作记忆的事件相关电位研究
| 摘要 | 第3-5页 |
| Abstract | 第5-6页 |
| 第1章 绪论 | 第9-14页 |
| 1.1 工作记忆概述 | 第9-10页 |
| 1.2 n-back范式 | 第10-11页 |
| 1.3 事件相关电位 | 第11-12页 |
| 1.4 工作记忆的事件相关电位研究 | 第12-14页 |
| 第2章 实验设计 | 第14-22页 |
| 2.1 实验设备 | 第14-16页 |
| 2.2 实验对象 | 第16页 |
| 2.3 实验素材 | 第16-17页 |
| 2.4 实验流程 | 第17-22页 |
| 第3章E-Prime刺激程序设计 | 第22-35页 |
| 3.1 E-Studio界面 | 第22-23页 |
| 3.2 E-Studio编程设计 | 第23-34页 |
| 3.2.1 程序流程 | 第23-24页 |
| 3.2.2 程序编辑 | 第24-34页 |
| 3.3 调试及执行 | 第34-35页 |
| 第4章 数据预处理 | 第35-40页 |
| 4.1 行为数据的预处理 | 第35-36页 |
| 4.2 脑电信号的预处理 | 第36-40页 |
| 第5章 数据分析 | 第40-48页 |
| 5.1 行为数据分析 | 第40-41页 |
| 5.2 ERP数据分析 | 第41-48页 |
| 5.2.1 P300峰值及潜伏期方差分析 | 第41-44页 |
| 5.2.2 差异波P800峰值及潜伏期方差分析 | 第44-48页 |
| 第6章 讨论与展望 | 第48-51页 |
| 6.1 讨论 | 第48-49页 |
| 6.2 展望 | 第49-51页 |
| 参考文献 | 第51-55页 |
| 致谢 | 第55页 |
