开关电源控制芯片可测性电路的设计
| 摘要 | 第4-5页 |
| Abstract | 第5页 |
| 第一章 绪论 | 第8-12页 |
| 1.1. 课题背景介绍 | 第8-9页 |
| 1.2. 国内外研究现状 | 第9-10页 |
| 1.3. 研究内容 | 第10-11页 |
| 1.4. 论文组织结构 | 第11-12页 |
| 第二章 开关电源控制芯片可测性技术综述 | 第12-22页 |
| 2.1. 可测性技术 | 第12-15页 |
| 2.2. 开关电源控制芯片可测性技术 | 第15-16页 |
| 2.3. 故障模型 | 第16-19页 |
| 2.4. PSR开关电源控制芯片常见故障 | 第19-20页 |
| 2.5. 小结 | 第20-22页 |
| 第三章 开关电源控制芯片可测性设计原理分析 | 第22-32页 |
| 3.1. 开关电源控制芯片端口复用方法 | 第22-24页 |
| 3.2. 测试模式端口复用原理 | 第24-26页 |
| 3.3. 测试模式保护机制 | 第26-28页 |
| 3.4. 常见测试指标要求 | 第28-30页 |
| 3.5. 测试模式工作流程 | 第30-31页 |
| 3.6. 小结 | 第31-32页 |
| 第四章 测试模式电路设计 | 第32-44页 |
| 4.1. 测试电路主要功能模块 | 第32-34页 |
| 4.2. 触发测试模式电路设计及仿真 | 第34-38页 |
| 4.3. 测试模式跳变电路设计及仿真 | 第38-41页 |
| 4.4. 测试结果输出电路设计 | 第41-42页 |
| 4.5. 时钟可控电路设计及仿真 | 第42-43页 |
| 4.6. 小结 | 第43-44页 |
| 第五章 测试模式工作状态设计 | 第44-60页 |
| 5.1.测试模式切换期间测试内容 | 第44-45页 |
| 5.2. 各模式测试内容 | 第45-52页 |
| 5.3. 前仿真设计结果 | 第52-54页 |
| 5.4. 版图设计 | 第54-58页 |
| 5.5. 设计指标和后仿真结果对比 | 第58-59页 |
| 5.6. 小结 | 第59-60页 |
| 第六章 总结与展望 | 第60-62页 |
| 6.1. 总结 | 第60页 |
| 6.2. 展望 | 第60-62页 |
| 参考文献 | 第62-64页 |
