| 摘要 | 第5-6页 |
| ABSTRACT | 第6页 |
| 第1章 绪论 | 第10-16页 |
| 1.1 LITT效应简史 | 第10-11页 |
| 1.2 LITT效应理论基础 | 第11-13页 |
| 1.2.1 Seebeck效应 | 第12页 |
| 1.2.2 热传导理论 | 第12-13页 |
| 1.3 BiCuSeO热电材料简介 | 第13-14页 |
| 1.4 本工作的研究意义及主要内容 | 第14-16页 |
| 第2章 样品的制备与表征 | 第16-22页 |
| 2.1 脉冲激光沉积技术 | 第16页 |
| 2.2 样品表征方法 | 第16-18页 |
| 2.2.1 薄膜结构特性分析方法(X射线衍射) | 第16-17页 |
| 2.2.2 薄膜表面形貌分析 | 第17-18页 |
| 2.2.3 薄膜微结构分析 | 第18页 |
| 2.3 薄膜光吸收谱测试 | 第18页 |
| 2.4 LITT效应测试方法 | 第18-19页 |
| 2.5 热电性能测试方法 | 第19-22页 |
| 2.5.1 电阻率及Seebeck系数测试方法 | 第19-20页 |
| 2.5.2 霍尔系数测试方法 | 第20-22页 |
| 第3章 BiCuSeO薄膜的LITT效应研究 | 第22-32页 |
| 3.1 引言 | 第22页 |
| 3.2 BiCuSeO单晶薄膜制备与表征 | 第22-25页 |
| 3.2.1 薄膜样品的制备 | 第22-23页 |
| 3.2.2 薄膜样品的表征 | 第23-25页 |
| 3.3 沉积温度对BiCuSeO薄膜LITT特性影响研究 | 第25-26页 |
| 3.4 BiCuSeO薄膜的LITT效应测试 | 第26-31页 |
| 3.4.1 脉冲光源 | 第26-30页 |
| 3.4.2 连续光源 | 第30-31页 |
| 3.4.3 连续热源 | 第31页 |
| 3.5 小结 | 第31-32页 |
| 第4章 Pb掺杂对BiCuSeO薄膜的LITT效应影响研究 | 第32-42页 |
| 4.1 引言 | 第32页 |
| 4.2 Bi_(1-x)Pb_xCuSeO薄膜的制备与表征 | 第32-34页 |
| 4.2.1 Bi_(1-x)Pb_xCuSeO薄膜的制备 | 第32页 |
| 4.2.2 Bi_(1-x)Pb_xCuSeO薄膜的表征 | 第32-34页 |
| 4.2.3 Bi_(1-x)Pb_xCuSeO薄膜热电性能的测试 | 第34页 |
| 4.3 Bi_(1-x)Pb_xCuSeO薄膜的LITT性能测试 | 第34-39页 |
| 4.3.1 脉冲光源 | 第35-38页 |
| 4.3.2 连续热源 | 第38-39页 |
| 4.4 小结 | 第39-42页 |
| 第5章 测试气氛及温度对LITT效应影响研究 | 第42-46页 |
| 5.1 测试气氛对LITT效应的影响研究 | 第42-44页 |
| 5.1.1 脉冲光源 | 第42-43页 |
| 5.1.2 连续光源 | 第43-44页 |
| 5.2 测试温度对LITT效应的影响 | 第44-45页 |
| 5.3 小结 | 第45-46页 |
| 结束语 | 第46-47页 |
| 参考文献 | 第47-52页 |
| 致谢 | 第52-54页 |
| 攻读硕士研究生期间发表的学术论文和专利 | 第54页 |
