| 中文摘要 | 第3-4页 |
| Abstract | 第4-5页 |
| 第一章 引言 | 第10-12页 |
| 第二章 物理研究意义与进展 | 第12-21页 |
| 2.1 物理研究意义 | 第12-15页 |
| 2.2 几种测量Γ_(π~0)→γγ实验的简介 | 第15-17页 |
| 2.2.1 直接测量法(Direct Method) | 第15-16页 |
| 2.2.2 双光子反应法(γγ Collision Method) | 第16页 |
| 2.2.3 利用Primakoff效应测量法(The Primakoff method) | 第16-17页 |
| 2.3 PrimEx实验 | 第17-21页 |
| 第三章 实验装置 | 第21-35页 |
| 3.1 概述 | 第21-22页 |
| 3.2 Jeffrson Lab加速器 | 第22-23页 |
| 3.3 Hall B光子标记设备(Photon Tagger) | 第23-25页 |
| 3.4 PRIMEX-Ⅱ实验靶 | 第25-27页 |
| 3.5 正负电子符合谱仪PS(Pair Spectrometer) | 第27-29页 |
| 3.6 混合电磁量能器(The Hybrid Calorimeter,简称HyCal) | 第29-32页 |
| 3.7 全吸收型计数器TAC(The Total Absorption Counter,TAC) | 第32-35页 |
| 第四章 探测器标定 | 第35-47页 |
| 4.1 Tagger内部探测器的时间校准 | 第35-39页 |
| 4.1.1 T-counter左右符合信号的时间校准 | 第35-36页 |
| 4.1.2 相邻T-counter的符合信号时间校准 | 第36-37页 |
| 4.1.3 T-counter和E-counter的符合信号时间校准 | 第37-39页 |
| 4.2 检查HyCal ADC的工作状态 | 第39-42页 |
| 4.3 HyCal位置坐标的校准 | 第42-46页 |
| 4.3.1 π~0介子产额随成角在X和Y轴投影的分布 | 第43-45页 |
| 4.3.2 “单臂的”Compton事件 | 第45-46页 |
| 4.4 本章小结 | 第46-47页 |
| 第五章 光致生成π~0介子反应截面和Γ_(π~0)→γγ的测量 | 第47-86页 |
| 5.1 数据选择 | 第47-48页 |
| 5.2 重建π~0的不变质量和生成角度 | 第48-61页 |
| 5.2.1 束流光子的选择 | 第48-50页 |
| 5.2.2 Cluster-pair的选择 | 第50-51页 |
| 5.2.3 重建π~0介子的不变质量M_(γγ)和生成角度θ_(π~0) | 第51-52页 |
| 5.2.4 能量约束条件(Energy Constraint) | 第52-55页 |
| 5.2.5 π~0介子产额 | 第55-61页 |
| 5.3 两种实验本底的扣除 | 第61-67页 |
| 5.3.1 光致生成ω介子本底 | 第61-66页 |
| 5.3.2 “最佳时间”束流光子选择法引入的本底 | 第66-67页 |
| 5.4 光致π~0介子生成的实验模拟 | 第67-68页 |
| 5.5 光致生成π~0介子的反应截面 | 第68-72页 |
| 5.5.1 入射光子总数 | 第69页 |
| 5.5.2 实验靶的厚度和密度 | 第69页 |
| 5.5.3 实验效率 | 第69-70页 |
| 5.5.4 实验结果 | 第70-72页 |
| 5.6 系统误差分析 | 第72-85页 |
| 5.6.1 π~0→γ γ的分支比 | 第72页 |
| 5.6.2 实验靶的厚度和密度 | 第72页 |
| 5.6.3 单个γ光子能量的截断 | 第72-73页 |
| 5.6.4 双光子能量之和的截断 | 第73-74页 |
| 5.6.5 HyCal的坐标原点校准 | 第74-76页 |
| 5.6.6 HyCal的XY平面垂直度校准 | 第76-78页 |
| 5.6.7 时间偶然符合修正 | 第78-80页 |
| 5.6.8 时间tdiff截断的效率 | 第80-81页 |
| 5.6.9 实验靶与HyCal之间距离的测量不确定度 | 第81-82页 |
| 5.6.10 “最佳时间”TAGM光子的选择 | 第82-83页 |
| 5.6.11 由ω本底扣除引入的系统误差 | 第83-84页 |
| 5.6.12 实验误差总结 | 第84-85页 |
| 5.7 本章小结 | 第85-86页 |
| 第六章 光子反应总截面的测量 | 第86-114页 |
| 6.1 理论背景简介 | 第86-91页 |
| 6.1.1 ~(28)Si靶的光子反应总截面计算公式 | 第88-89页 |
| 6.1.2 ~(12)C靶的光子反应总截面计算公式 | 第89-91页 |
| 6.2 入射光子数N_(in)和出射光子数N_(out)的探测与分析 | 第91-93页 |
| 6.2.1 光子绝对标记率R_(absolute)和N_(in) | 第91-92页 |
| 6.2.2 N_(out)及光子与靶物质发生相互作用的概率η | 第92-93页 |
| 6.3 实验数据分析 | 第93-105页 |
| 6.3.1 实验数据介绍 | 第93-94页 |
| 6.3.2 TAC ADC増益的刻度 | 第94-96页 |
| 6.3.3 光子能量沉积率的阂值R_(cut)以及它的效率 | 第96-102页 |
| 6.3.4 TAC和Tagger时间符合事件的确定 | 第102-105页 |
| 6.4 光子反应总截面的实验结果与讨论 | 第105-114页 |
| 6.4.1 TAC ADC增益和pedestal的不确定度引起的系统误差 | 第105页 |
| 6.4.2 光子能量沉积率阈值R_(cut)的不确定度引起的系统误差 | 第105-106页 |
| 6.4.3 由TAC TDC cut的不确定度引起的系统误差 | 第106-107页 |
| 6.4.4 由ε的不确定度引起的系统误差 | 第107页 |
| 6.4.5 由α的不确定度引起的系统误差 | 第107-108页 |
| 6.4.6 由光子绝对标记率的稳定性引起的系统误差 | 第108-110页 |
| 6.4.7 结果与讨论 | 第110-114页 |
| 第七章 实验总结与展望 | 第114-117页 |
| 7.1 实验创新点 | 第114-115页 |
| 7.2 实验总结和展望 | 第115-117页 |
| 附录 | 第117-122页 |
| 参考文献 | 第122-124页 |
| 在学期间的研究成果 | 第124-125页 |
| 致谢 | 第125页 |
