时序拼接光学合成孔径成像技术研究
| 致谢 | 第4-5页 |
| 摘要 | 第5-6页 |
| ABSTRACT | 第6-7页 |
| 1 绪论 | 第10-20页 |
| 1.1 研究背景 | 第10-11页 |
| 1.2 光学合成孔径成像技术研究现状与发展趋势 | 第11-18页 |
| 1.2.1 国外发展现状 | 第11-16页 |
| 1.2.2 国内发展现状 | 第16-18页 |
| 1.3 时序拼接光学合成孔径成像技术研究意义 | 第18页 |
| 1.4 本文主要研究内容与结构安排 | 第18-20页 |
| 2 数字全息成像技术 | 第20-33页 |
| 2.1 数字全息成像技术记录 | 第20-21页 |
| 2.2 数字全息成像技术再现 | 第21-24页 |
| 2.3 数字全息成像技术分类 | 第24-27页 |
| 2.3.1 同轴数字全息成像技术 | 第24-26页 |
| 2.3.2 离轴数字全息成像技术 | 第26-27页 |
| 2.4 相移算法 | 第27-32页 |
| 2.4.1 定步长相移算法 | 第29-31页 |
| 2.4.2 等步长相移算法 | 第31-32页 |
| 2.5 本章小结 | 第32-33页 |
| 3 时序拼接光学合成孔径成像技术 | 第33-47页 |
| 3.1 菲涅尔非相干全息成像技术原理 | 第33-36页 |
| 3.2 时序拼接光学合成孔径成像技术原理 | 第36-38页 |
| 3.3 成像参数对成像分辨率影响的理论分析 | 第38-43页 |
| 3.3.1 记录距离 | 第38-39页 |
| 3.3.2 相位掩膜类型 | 第39-42页 |
| 3.3.3 相位掩膜半径与球面波相位半径 | 第42-43页 |
| 3.4 成像分辨率提高的理论分析 | 第43页 |
| 3.5 成像参数的限制 | 第43-45页 |
| 3.6 本章小结 | 第45-47页 |
| 4 时序拼接光学合成孔径成像技术数值仿真研究 | 第47-57页 |
| 4.1 成像参数对成像分辨率影响的数值仿真研究 | 第47-54页 |
| 4.1.1 记录距离 | 第47-48页 |
| 4.1.2 相位掩膜类型 | 第48-50页 |
| 4.1.3 相位掩膜半径与球面波相位半径 | 第50-52页 |
| 4.1.4 相移量与相移步数 | 第52-54页 |
| 4.2 成像分辨率提高的数值仿真研究 | 第54-56页 |
| 4.3 本章小结 | 第56-57页 |
| 5 时序拼接光学合成孔径成像技术实验研究 | 第57-62页 |
| 5.1 成像参数对成像分辨率影响的实验研究 | 第57-60页 |
| 5.1.1 相位掩膜类型 | 第58页 |
| 5.1.2 相位掩膜半径与球面波相位半径 | 第58-60页 |
| 5.2 成像分辨率提高的实验研究 | 第60-61页 |
| 5.3 本章小结 | 第61-62页 |
| 6 总结与展望 | 第62-65页 |
| 6.1 本文的主要研究工作 | 第62-63页 |
| 6.2 本文的主要创新点及下一步的研究工作 | 第63-65页 |
| 参考文献 | 第65-73页 |
| 作者简历及在学期间发表的学术论文与研究成果 | 第73页 |
