基于ARM的高精度灌装用电磁流量计的研究
| 摘要 | 第4-5页 |
| ABSTRACT | 第5-6页 |
| 1 绪论 | 第10-16页 |
| 1.1 引言 | 第10页 |
| 1.2 电磁流量计的原理 | 第10-12页 |
| 1.2.1 法拉第电磁感应定律 | 第10-11页 |
| 1.2.2 电磁流量计的工作原理 | 第11-12页 |
| 1.3 电磁流量计的发展 | 第12-14页 |
| 1.3.1 电磁流量计的发展历史 | 第12-13页 |
| 1.3.2 电磁流量计的发展趋势 | 第13-14页 |
| 1.4 电磁流量计的优缺点 | 第14页 |
| 1.5 本课题研究的意义 | 第14-15页 |
| 1.6 主要研究内容 | 第15页 |
| 1.7 设计要求 | 第15-16页 |
| 2 系统干扰和精度影响因素 | 第16-24页 |
| 2.1 主要干扰及其产生的原理 | 第16-19页 |
| 2.1.1 正交干扰 | 第16-17页 |
| 2.1.2 串模干扰 | 第17-18页 |
| 2.1.3 同相干扰 | 第18页 |
| 2.1.4 共模干扰 | 第18页 |
| 2.1.5 直流干扰 | 第18-19页 |
| 2.2 抗干扰措施 | 第19-22页 |
| 2.2.1 硬件抗干扰措施 | 第19-20页 |
| 2.2.2 软件抗干扰措施 | 第20-22页 |
| 2.3 主要精度影响因素 | 第22-23页 |
| 2.3.1 温度的影响 | 第22页 |
| 2.3.2 非满管情况的影响 | 第22-23页 |
| 2.3.3 电极的影响 | 第23页 |
| 2.3.4 电导率影响 | 第23页 |
| 2.3.5 测量管内衬的光滑程度的影响 | 第23页 |
| 2.4 本章小结 | 第23-24页 |
| 3 硬件电路设计 | 第24-42页 |
| 3.1 电路总体设计 | 第24页 |
| 3.2 单片机系统电路设计 | 第24-30页 |
| 3.2.1 主控芯片的选择 | 第24-25页 |
| 3.2.2 电源电路 | 第25-27页 |
| 3.2.3 调试接口电路 | 第27-28页 |
| 3.2.4 复位电路 | 第28-29页 |
| 3.2.5 晶振电路 | 第29-30页 |
| 3.3 励磁系统的设计 | 第30-35页 |
| 3.3.1 励磁方式 | 第30-34页 |
| 3.3.2 励磁方案的选择 | 第34页 |
| 3.3.3 励磁电路 | 第34-35页 |
| 3.4 信号调理电路 | 第35-38页 |
| 3.5 通信模块电路设计 | 第38-41页 |
| 3.5.1 RS 485总线 | 第39-40页 |
| 3.5.2 电路设计 | 第40-41页 |
| 3.6 本章小结 | 第41-42页 |
| 4 系统软件设计 | 第42-54页 |
| 4.1 软件开发环境 | 第42页 |
| 4.2 软件模块化设计 | 第42-52页 |
| 4.2.1 系统主程序流程图 | 第42-44页 |
| 4.2.2 中断模块 | 第44页 |
| 4.2.3 A/D转换模块 | 第44-45页 |
| 4.2.4 MODBUS通信协议 | 第45-51页 |
| 4.2.5 流量积算模块 | 第51页 |
| 4.2.6 流速补偿 | 第51-52页 |
| 4.3 上位机软件设计 | 第52-53页 |
| 4.4 本章小结 | 第53-54页 |
| 5 实验和结果 | 第54-64页 |
| 5.1 电磁流量计校准方法 | 第54页 |
| 5.2 实验装置 | 第54-55页 |
| 5.3 实验数据处理 | 第55-57页 |
| 5.3.1 重复性的计算 | 第55-56页 |
| 5.3.2 基本误差的计算 | 第56-57页 |
| 5.4 实验结果和分析 | 第57-62页 |
| 5.4.1 被测流体温度的影响 | 第57-59页 |
| 5.4.2 非满管情况的影响 | 第59页 |
| 5.4.3 电极的影响 | 第59-60页 |
| 5.4.4 电导率影响 | 第60-62页 |
| 5.4.5 测量管内衬的光滑程度的影响 | 第62页 |
| 5.5 本章小结 | 第62-64页 |
| 6 总结 | 第64-66页 |
| 参考文献 | 第66-70页 |
| 附录A | 第70-74页 |
| 致谢 | 第74页 |
