| 摘要 | 第5-7页 |
| Abstract | 第7-8页 |
| 第1章 绪论 | 第11-24页 |
| 1.1 超导体发展简介 | 第11-14页 |
| 1.2 高温超导体的电学性能 | 第14-19页 |
| 1.2.1 电阻随温度的变化(R-T) | 第14-18页 |
| 1.2.1.1 超导态性质 | 第14-15页 |
| 1.2.1.2 正常态性质 | 第15-16页 |
| 1.2.1.3 磁场的影响 | 第16-18页 |
| 1.2.2 电流电压特性(Ⅰ-Ⅴ特性) | 第18-19页 |
| 1.3 Bi系氧化物超导体的研究 | 第19-22页 |
| 1.3.2 Bi系超导粉体的研究现状 | 第20-22页 |
| 1.3.2.1 Bi系氧化物超导粉体的制备方法 | 第20-21页 |
| 1.3.2.2 Bi系氧化物超导体的掺杂研究 | 第21-22页 |
| 1.4 本文的研究意义及研究内容 | 第22-24页 |
| 1.4.1 研究意义 | 第22-23页 |
| 1.4.2 研究内容 | 第23-24页 |
| 第2章 实验原理与方法 | 第24-34页 |
| 2.1 引言 | 第24页 |
| 2.2 相关物理概念 | 第24-26页 |
| 2.2.1 Mott绝缘体 | 第24-25页 |
| 2.2.2 磁通动力学 | 第25页 |
| 2.2.3 高温超导 | 第25-26页 |
| 2.3 样品制备的方法原理 | 第26-29页 |
| 2.4 样品表征手段 | 第29-34页 |
| 2.4.1 X射线衍射图谱 | 第29-30页 |
| 2.4.2 扫描电子显微镜 | 第30-31页 |
| 2.4.3 标准四引线法 | 第31-32页 |
| 2.4.4 超导量子干涉仪 | 第32-34页 |
| 第3章 制备条件和Ni掺杂对Bi-2212粉体微结构的影响 | 第34-48页 |
| 3.1 引言 | 第34-35页 |
| 3.2 Bi_2Sr_(2-x)CaCu_2Ni_xO_(8+δ)粉体的制备 | 第35-37页 |
| 3.2.1 实验药剂 | 第35-36页 |
| 3.2.2 样品制备过程 | 第36-37页 |
| 3.2.3 样品的表征手段 | 第37页 |
| 3.3 实验结果与讨论 | 第37-46页 |
| 3.3.1 水浴对Bi-2212粉体质量的影响 | 第37-40页 |
| 3.3.2 烧结温度对Bi-2212粉体质量的影响 | 第40-43页 |
| 3.3.3 Bi_2Sr_(2-x)CaCu_2Ni_xO_(8+δ)粉体的相成分分析 | 第43-46页 |
| 3.4 本章结论 | 第46-48页 |
| 第4章 Ni掺杂对(Bi,Ni)-2212氧化物物理性能的影响 | 第48-61页 |
| 4.1 引言 | 第48-49页 |
| 4.2 零场下Bi_2Sr_(2-x)CaCu_2Ni_xO_(8+δ)粉体电运输性能的研究 | 第49-53页 |
| 4.3 Bi_2Sr_(2-x)CaCu_2Ni_xO_(8+δ)超导粉体的磁性能 | 第53-60页 |
| 4.3.1 Bi_2Sr_(2-x)CaCu_2Ni_xO_(8+δ)超导粉体磁滞回线的分析 | 第53-57页 |
| 4.3.2 样品临界电流密度的计算 | 第57-60页 |
| 4.4 本章结论 | 第60-61页 |
| 第5章 结论 | 第61-63页 |
| 参考文献 | 第63-71页 |
| 致谢 | 第71页 |
