| 摘要 | 第1-5页 |
| ABSTRACT | 第5-8页 |
| 第一章 绪论 | 第8-14页 |
| ·低压成套开关设备 | 第8页 |
| ·可靠性的简介及历史概况 | 第8-9页 |
| ·Bayes理论的研究现状和发展趋势 | 第9-10页 |
| ·多源信息融合的发展历史 | 第10-11页 |
| ·论文主要研究内容 | 第11-14页 |
| 第二章 低压成套开关设备的贝叶斯可靠性评估 | 第14-22页 |
| ·贝叶斯理论与经典统计学理论 | 第14页 |
| ·贝叶斯理论 | 第14-18页 |
| ·贝叶斯公式 | 第14-16页 |
| ·贝叶斯估计 | 第16-18页 |
| ·基于贝叶斯理论的低压成套开关设备可靠性评估方案 | 第18-20页 |
| ·低压成套开关设备贝叶斯可靠性评估中的关键问题 | 第20页 |
| ·先验信息处理问题 | 第20页 |
| ·多源信息融合问题 | 第20页 |
| ·本章小结 | 第20-22页 |
| 第三章 低压成套开关设备先验信息的可信性分析和相容性检验 | 第22-40页 |
| ·先验信息的基本理论 | 第22-27页 |
| ·先验信息的分类和获取 | 第22-23页 |
| ·先验信息的可信性分析和相容性检验 | 第23-26页 |
| ·先验信息在多源信息融合中的重要性 | 第26-27页 |
| ·低压成套开关设备先验信息的获取 | 第27-33页 |
| ·低压成套开关设备先验信息的可信性分析 | 第33-34页 |
| ·低压成套开关设备先验信息的相容性检验 | 第34-38页 |
| ·Mood检验方法检验低压成套开关设备先验信息的相容性 | 第34-36页 |
| ·Wilcoxon方法检验低压成套开关设备先验信息的相容性 | 第36页 |
| ·Smirnov检验方法检验低压成套开关设备先验信息的相容性 | 第36-38页 |
| ·本章小结 | 第38-40页 |
| 第四章 低压成套开关设备可靠性信息的多源融合 | 第40-60页 |
| ·多源信息融合结果——先验分布 | 第40-43页 |
| ·先验分布确定的一般方法 | 第40-42页 |
| ·先验信息分布类型的确定 | 第42-43页 |
| ·多源信息融合理论 | 第43-50页 |
| ·多源信息融合的基本理论 | 第43-49页 |
| ·最大熵多源信息融合方法 | 第49-50页 |
| ·低压成套开关设备先验信息的最大熵多源信息融合 | 第50-57页 |
| ·低压成套开关设备先验信息分布类型的确定 | 第50-55页 |
| ·Bootstrap自助法对低压成套开关设备先验信息的重新抽样 | 第55-56页 |
| ·低压成套开关设备先验信息的最大熵多源信息融合 | 第56-57页 |
| ·低压成套开关设备先验分布的稳健性分析 | 第57-58页 |
| ·低压成套开关设备后验分布的确定 | 第58-59页 |
| ·本章小结 | 第59-60页 |
| 第五章 结论 | 第60-62页 |
| 参考文献 | 第62-64页 |
| 附表A | 第64页 |
| 附表B | 第64-66页 |
| 附录C | 第66-68页 |
| 攻读学位期间所取得的相关科研成果 | 第68-70页 |
| 致谢 | 第70页 |
