| 摘要 | 第1-6页 |
| Abstract | 第6-14页 |
| 1 绪论 | 第14-28页 |
| ·引言 | 第14页 |
| ·BiVO_4材料概述 | 第14-24页 |
| ·BiVO_4的晶体结构 | 第14-16页 |
| ·BiVO_4的基本性质与应用 | 第16-17页 |
| ·BiVO_4材料的研究进展 | 第17-24页 |
| ·PTC效应 | 第24-25页 |
| ·选题背景及研究意义 | 第25-26页 |
| ·主要研究内容 | 第26-28页 |
| 2 BiVO_4晶体的坩埚下降法生长与性能研究 | 第28-35页 |
| ·引言 | 第28页 |
| ·原料合成、晶体生长及样品表征与测试 | 第28-30页 |
| ·BiVO_4多晶粉末的制备 | 第28-29页 |
| ·晶体生长 | 第29-30页 |
| ·样品表征与性能测试 | 第30页 |
| ·实验结果分析 | 第30-33页 |
| ·XRD物相分析 | 第30-31页 |
| ·表面畴结构 | 第31-32页 |
| ·表面接触角随光照时间的变化 | 第32-33页 |
| ·电学性能 | 第33页 |
| ·本章小结 | 第33-35页 |
| 3 BiVO_4陶瓷的制备与电学性能研究 | 第35-46页 |
| ·引言 | 第35页 |
| ·实验部分 | 第35-37页 |
| ·样品制备 | 第36页 |
| ·样品表征与电学性能测试 | 第36-37页 |
| ·实验结果分析 | 第37-44页 |
| ·XRD物相分析 | 第37-38页 |
| ·SEM显微结构分析 | 第38-41页 |
| ·介电性能 | 第41-42页 |
| ·阻抗谱 | 第42-43页 |
| ·电阻率随温度的变化特性 | 第43-44页 |
| ·本章小结 | 第44-46页 |
| 4 Bi_(1-x)La_xVO_4固溶体陶瓷的制备与电学性能研究 | 第46-58页 |
| ·引言 | 第46页 |
| ·实验部分 | 第46-47页 |
| ·样品制备 | 第46-47页 |
| ·样品表征与电学性能测试 | 第47页 |
| ·实验结果分析 | 第47-57页 |
| ·XRD物相分析 | 第47-49页 |
| ·晶胞参数 | 第49-50页 |
| ·SEM显微结构分析 | 第50-51页 |
| ·介电特性 | 第51-53页 |
| ·阻抗谱 | 第53-56页 |
| ·电阻率随温度变化特性 | 第56-57页 |
| ·本章小结 | 第57-58页 |
| 5 V~(5+)位掺杂M~(6+)(M：Mo、W)对BiVO_4陶瓷电学性能的影响 | 第58-75页 |
| ·引言 | 第58页 |
| ·Bi_(1-x/3)Φ_(x/3)V_(1-x)M_xO_4陶瓷的制备、表征与电学性能测试 | 第58-60页 |
| ·样品制备 | 第58-60页 |
| ·样品表征与电学性能测试 | 第60页 |
| ·V~(5+)位Mo~(6+)掺杂对BiVO_4陶瓷电学性能的影响 | 第60-69页 |
| ·XRD物相分析 | 第60-61页 |
| ·SEM显微结构分析 | 第61-64页 |
| ·介电性能 | 第64-67页 |
| ·阻抗谱 | 第67-68页 |
| ·电阻率随温度变化特性 | 第68-69页 |
| ·V~(5+)位W~(6+)掺杂对BiVO_4陶瓷电学性能的影响 | 第69-74页 |
| ·XRD物相分析 | 第69-70页 |
| ·SEM显微结构分析 | 第70-73页 |
| ·电阻率随温度变化特性 | 第73-74页 |
| ·本章小结 | 第74-75页 |
| 6 全文总结与展望 | 第75-77页 |
| ·全文总结 | 第75页 |
| ·展望 | 第75-77页 |
| 参考文献 | 第77-86页 |
| 致谢 | 第86-87页 |
| 作者简介及读研期间主要科研成果 | 第87页 |
