| 摘要 | 第1-3页 |
| ABSTRACT | 第3-6页 |
| 第一章 绪论 | 第6-15页 |
| ·课题来源及研究意义 | 第6-10页 |
| ·国内外研究现状 | 第10-14页 |
| ·国外研究现状 | 第10-12页 |
| ·国内研究现状 | 第12-14页 |
| ·本文研究的问题、内容和研究目标 | 第14-15页 |
| ·本文研究的问题 | 第14页 |
| ·本文主要研究内容 | 第14页 |
| ·本文研究目标 | 第14-15页 |
| 第二章 等离子体辐照实验平台和测试仪器 | 第15-28页 |
| ·辐照装置的搭建 | 第15-21页 |
| ·辐照装置原理 | 第15-16页 |
| ·辐照实验平台设计 | 第16-18页 |
| ·放电真空室设计 | 第18页 |
| ·RF源 | 第18-21页 |
| ·红外激光辅助加热 | 第21页 |
| ·辐照实验平台运行 | 第21-23页 |
| ·实验开始操作步骤 | 第21-22页 |
| ·实验完毕操作步骤 | 第22-23页 |
| ·材料分析方法 | 第23-27页 |
| ·扫描电子显微镜 | 第23页 |
| ·原子力显微镜 | 第23-25页 |
| ·导电式原子力显微镜 | 第25-26页 |
| ·X射线衍射 | 第26-27页 |
| ·本章小结 | 第27-28页 |
| 第三章 低能大流强氦离子辐照对钼的表面损伤演化研究 | 第28-34页 |
| ·实验辐照系统 | 第28-29页 |
| ·实验方法 | 第29-30页 |
| ·辐照剂量的影响 | 第30-31页 |
| ·采用SEM分析钼样品表面形貌 | 第30页 |
| ·导电原子力显微镜分析 | 第30-31页 |
| ·退火温度的影响 | 第31-33页 |
| ·采用SEM分析钼样品表面形貌 | 第31-32页 |
| ·导电原子力显微镜分析 | 第32-33页 |
| ·小结 | 第33-34页 |
| 第四章 辐照温度对钨材料的表损伤演化研究 | 第34-39页 |
| ·实验装置 | 第34页 |
| ·实验方法 | 第34页 |
| ·采用SEM分析不同温度辐照下钨样品的表面形貌 | 第34-36页 |
| ·导电性分析 | 第36-37页 |
| ·钨样品的XRD表征 | 第37-38页 |
| ·小结 | 第38-39页 |
| 第五章 结论及展望 | 第39-40页 |
| 致谢 | 第40-41页 |
| 参考文献 | 第41-43页 |