X射线法介质识别理论与系统研究
| 摘要 | 第1-4页 |
| ABSTRACT | 第4-7页 |
| 第一章 绪论 | 第7-13页 |
| ·引言 | 第7页 |
| ·研究的目的及意义 | 第7-9页 |
| ·国内外研究现状及发展趋势 | 第9-11页 |
| ·主要的研究内容及结构 | 第11-13页 |
| 第二章 X 射线法介质识别理论与系统 | 第13-25页 |
| ·X 射线的性质 | 第13页 |
| ·X 射线的产生 | 第13-14页 |
| ·X 射线与物质的相互作用 | 第14-16页 |
| ·X 射线的衰减规律 | 第16-18页 |
| ·X 射线法介质识别的原理 | 第18-19页 |
| ·介质识别系统设计 | 第19-24页 |
| ·X 射线法介质识别系统模型 | 第19-20页 |
| ·X 射线法介质识别系统 | 第20-24页 |
| ·本章小结 | 第24-25页 |
| 第三章 介质识别系统的硬件设计与实现 | 第25-41页 |
| ·系统硬件整体设计方案 | 第25页 |
| ·前置放大电路 | 第25-27页 |
| ·主放大电路 | 第27-28页 |
| ·滤波电路 | 第28-30页 |
| ·峰值保持电路 | 第30-35页 |
| ·DSP 外围硬件电路 | 第35-40页 |
| ·电源电路 | 第36页 |
| ·数据存储电路 | 第36-38页 |
| ·数据传输电路 | 第38-39页 |
| ·日历时钟电路 | 第39-40页 |
| ·本章小结 | 第40-41页 |
| 第四章 介质识别系统的软件设计与实现 | 第41-54页 |
| ·TMS320F2812 芯片及开发环境 | 第41-43页 |
| ·TMS320F2812 芯片的性能 | 第41-42页 |
| ·CCS3.3 集成开发环境 | 第42-43页 |
| ·系统软件的整体设计 | 第43-44页 |
| ·A/D 采集程序 | 第44-46页 |
| ·多道寻址程序 | 第46-47页 |
| ·外扩 RAM 程序 | 第47-48页 |
| ·数据存储及传输程序 | 第48-53页 |
| ·系统联调结果 | 第53页 |
| ·本章小结 | 第53-54页 |
| 第五章 系统试验 | 第54-62页 |
| ·实验系统构建 | 第54-55页 |
| ·实验过程 | 第55页 |
| ·实验参数的确定 | 第55-57页 |
| ·实验一 | 第57-59页 |
| ·实验二 | 第59-60页 |
| ·实验三 | 第60-61页 |
| ·本章小结 | 第61-62页 |
| 第六章 总结 | 第62-63页 |
| 致谢 | 第63-64页 |
| 参考文献 | 第64-66页 |
| 攻读硕士学位期间发表的论文 | 第66-67页 |
| 详细摘要 | 第67-77页 |
