| 摘要 | 第1-6页 |
| Abstract | 第6-10页 |
| 第1章 绪论 | 第10-32页 |
| ·引言 | 第10-11页 |
| ·纳流控学 | 第11页 |
| ·浓度极化 | 第11-20页 |
| ·纳米通道离子选择性 | 第12页 |
| ·浓度极化理论 | 第12-15页 |
| ·流体的非线性运动 | 第15-16页 |
| ·浓度极化效应应用 | 第16-20页 |
| ·切向电场对纳流控浓集影响 | 第20-21页 |
| ·纳米通道整流效应 | 第21-25页 |
| ·几何形状不对称通道 | 第21-23页 |
| ·通道两端电解质溶液浓度不对称 | 第23-25页 |
| ·通道表面电荷分布不对称 | 第25页 |
| ·微纳流控芯片的制作 | 第25-27页 |
| ·Nafion在纳流控富集中的应用 | 第27-31页 |
| ·本课题的研究意义与内容 | 第31-32页 |
| 第2章 基于毛细管刻蚀膜微纳界面的表征 | 第32-48页 |
| ·引言 | 第32页 |
| ·仪器与试剂 | 第32-34页 |
| ·实验仪器 | 第32-33页 |
| ·实验试剂 | 第33页 |
| ·溶液的配制 | 第33-34页 |
| ·实验操作 | 第34-37页 |
| ·毛细管上微纳界面的建立 | 第34-35页 |
| ·毛细管刻蚀膜微纳流控界面上电流—电压(Ⅰ-Ⅴ)曲线的测定 | 第35页 |
| ·激光诱导荧光(LIF)检测系统 | 第35-36页 |
| ·利用LIF检测方法研究切向电场对浓缩效率的影响 | 第36-37页 |
| ·结果与讨论 | 第37-47页 |
| ·监控电压与膜的状态 | 第37-40页 |
| ·毛细管刻蚀膜上的电流-电压(Ⅰ-Ⅴ)曲线 | 第40-44页 |
| ·切向电场对带负电荷荧光探针分子浓缩的影响 | 第44-47页 |
| ·本章小结 | 第47-48页 |
| 第3章 基于Nafion及石英毛细管狭缝微纳界面的建立及表征 | 第48-69页 |
| ·引言 | 第48页 |
| ·仪器与试剂 | 第48-50页 |
| ·实验仪器 | 第48-49页 |
| ·实验试剂 | 第49页 |
| ·溶液的配制 | 第49-50页 |
| ·实验操作 | 第50-57页 |
| ·芯片制作与保存 | 第50-52页 |
| ·毛细管狭缝宽度的研究 | 第52-55页 |
| ·狭缝是否具有浓度极化现象研究 | 第55页 |
| ·优化Nafion浓度的研究 | 第55-56页 |
| ·不同条件下荧光探针分子在微纳界面上的浓度极化现象研究 | 第56页 |
| ·LIF检测方法对基于毛细管狭缝微纳界面浓缩效率初步研究 | 第56-57页 |
| ·结果与讨论 | 第57-68页 |
| ·毛细管狭缝漏液情况、宽度及其浓度极化现象的表征结果 | 第57-59页 |
| ·不同浓度Nafion对狭缝成膜的影响 | 第59-61页 |
| ·离子强度对带负电荷荧光探针分子浓度极化的影响 | 第61-65页 |
| ·离子强度对带正电荷荧光探针分子浓度极化的影响 | 第65-67页 |
| ·带负电荷荧光探针分子进样浓集 | 第67-68页 |
| ·本章小结 | 第68-69页 |
| 第4章 结论与展望 | 第69-70页 |
| 参考文献 | 第70-80页 |
| 致谢 | 第80页 |
