摘要 | 第1-6页 |
Abstract | 第6-11页 |
第1章 绪论 | 第11-29页 |
·热电材料研究的背景及意义 | 第11-12页 |
·热电效应原理 | 第12-16页 |
·Seebeck效应 | 第12-13页 |
·Peltier效应 | 第13-14页 |
·Thomson效应 | 第14-15页 |
·热电效应之间的相互关系—Kelvin关系 | 第15-16页 |
·热电效应的应用及其进展 | 第16-19页 |
·热电发电 | 第16-18页 |
·热电制冷 | 第18-19页 |
·热电材料研究的最新进展 | 第19-24页 |
·传统热电材料的研究进展 | 第20-22页 |
·新型热电材料的研究进展 | 第22-24页 |
·热电材料研究的发展趋势 | 第24页 |
·In_4Se_3热电化合物的研究进展 | 第24-27页 |
·In_4Se_3化合物的晶体结构 | 第24-26页 |
·In_4Se_3化合物的热电性能研究进展 | 第26-27页 |
·本论文的选题意义和主要内容 | 第27-29页 |
第2章 材料的制备及表征 | 第29-37页 |
·材料的制备方法和设备 | 第29-33页 |
·材料的制备方法 | 第29-30页 |
·超声化学法 | 第30-31页 |
·超声清洗器 | 第31页 |
·高速冷冻离心机 | 第31-32页 |
·旋转管式炉 | 第32页 |
·放电等离子烧结技术及设备 | 第32-33页 |
·材料的结构与性能表征方法 | 第33-37页 |
·块体材料的密度测量 | 第33-34页 |
·材料的物相分析 | 第34页 |
·ICP-AES成份分析 | 第34页 |
·场发射扫描电子显微镜分析 | 第34页 |
·Seebeck系数测试 | 第34-35页 |
·电导率的测试原理 | 第35页 |
·霍尔系数的测试 | 第35-36页 |
·热导率的测试 | 第36-37页 |
第3章 超声化学法制备In_4Se_3化合物粉体的研究 | 第37-50页 |
·引言 | 第37页 |
·In_4Se_3化合物粉体的制备 | 第37-38页 |
·前驱体的相组成及微结构研究 | 第38-45页 |
·还原剂的种类对前驱体相组成的影响 | 第38-39页 |
·超声反应时间对前驱体相组成及微结构的影响 | 第39-42页 |
·还原剂用量对前驱体相组成及微结构的影响 | 第42-43页 |
·超声反应溶液中可能的反应机理 | 第43-45页 |
·前驱体的还原热处理 | 第45-48页 |
·还原热处理气氛对产物相组成的影响 | 第45-46页 |
·还原热处理温度对产物相组成的影响 | 第46页 |
·还原热处理时间对产物相组成的影响 | 第46-47页 |
·超声反应时间对产物相组成的影响 | 第47-48页 |
·本章小结 | 第48-50页 |
第4章 In_4Se_3的块体烧结工艺探索 | 第50-63页 |
·引言 | 第50页 |
·SPS烧结工艺对块体材料致密度与相组成的影响 | 第50-53页 |
·块体材料的烧结工艺优化 | 第50-51页 |
·块体材料的致密度及微结构表征 | 第51-53页 |
·块体材料的相组成 | 第53页 |
·不同烧结温度下块体材料的热电性能 | 第53-58页 |
·不同烧结温度下块体材料的电传输性能 | 第53-56页 |
·不同烧结温度下块体材料的热传输性能 | 第56-57页 |
·不同烧结温度下块体材料的ZT | 第57-58页 |
·不同烧结时间下块体In_4Se_3化合物的热电性能 | 第58-61页 |
·本章小结 | 第61-63页 |
第5章 In_(4-x)Sn_xSe_3化合物的合成及热电性能的研究 | 第63-74页 |
·引言 | 第63页 |
·In_(4-x)Sn_xSe_3热电化合物的制备与相组成 | 第63-67页 |
·In_(4-x)Sn_xSe_3热电化合物的制备 | 第63页 |
·产物相组成 | 第63-65页 |
·In_(4-x)Sn_xSe_3热电化合物的微观结构及实际组成分析 | 第65-67页 |
·In_(4-x)Sn_xSe_3热电化合物的热电传输性能研究 | 第67-72页 |
·In_(4-x)Sn_xSe_3热电化合物的电性能 | 第67-69页 |
·In_(4-x)Sn_xSe_3热电化合物的热性能 | 第69-71页 |
·In_(4-x)Sn_xSe_3热电化合物的无量纲热电性能指数ZT | 第71-72页 |
·本章小结 | 第72-74页 |
第6章 结论 | 第74-76页 |
参考文献 | 第76-83页 |
硕士期间发表的论文和申请的发明专利 | 第83-84页 |
致谢 | 第84页 |