| 中文摘要 | 第1-6页 |
| Abstract | 第6-13页 |
| 第一章 文献综述 | 第13-24页 |
| ·引言 | 第13页 |
| ·铁电体 | 第13-18页 |
| ·铁电体的概述 | 第13-15页 |
| ·铁电体的基础理论 | 第15-16页 |
| ·铁电陶瓷材料的研究历史 | 第16-17页 |
| ·铁电陶瓷材料的合成方法 | 第17-18页 |
| ·铋层状铁电陶瓷材料 | 第18-21页 |
| ·铋层状化合物的结构 | 第18-19页 |
| ·铋层状化合物的分类 | 第19-20页 |
| ·BaBi_4Ti_4O_(15)铁电陶瓷 | 第20-21页 |
| ·BaBi_2Nb_2O_9铁电陶瓷 | 第21页 |
| ·老化性能研究 | 第21-23页 |
| ·老化机理 | 第21-22页 |
| ·老化规律 | 第22页 |
| ·影响老化的因素 | 第22页 |
| ·改善电性能老化的途径 | 第22-23页 |
| ·配方的改性 | 第22-23页 |
| ·高温氧化处理 | 第23页 |
| ·热处理预老化 | 第23页 |
| ·弱交流电场处理 | 第23页 |
| ·选题意义与研究内容 | 第23-24页 |
| 第二章 陶瓷样品的制备与表征 | 第24-28页 |
| ·引言 | 第24页 |
| ·样品制备 | 第24-26页 |
| ·主要原料及试剂 | 第24-25页 |
| ·实验步骤 | 第25-26页 |
| ·陶瓷样品的性能表征 | 第26-28页 |
| ·X射线衍射(XRD)分析 | 第26页 |
| ·扫描电子显微镜分析 | 第26页 |
| ·介电性能(室温相对介电常数εr和介电损耗tanδ）的测量 | 第26-27页 |
| ·电滞回线 | 第27页 |
| ·介电老化性能 | 第27-28页 |
| 第三章 La~(3+)置换的BBT陶瓷 | 第28-37页 |
| ·引言 | 第28页 |
| ·实验与测试 | 第28-29页 |
| ·实验结果与讨论 | 第29-36页 |
| ·预烧温度和烧结成瓷温度的确定 | 第29-31页 |
| ·X射线衍射线(XRD)和微观结构(SEM)分析 | 第31-33页 |
| ·介电与铁电性能 | 第33-35页 |
| ·老化性能研究 | 第35-36页 |
| ·小结 | 第36-37页 |
| 第四章 Sc~(3+)置换的BBT陶瓷 | 第37-44页 |
| ·引言 | 第37页 |
| ·实验与测试 | 第37-38页 |
| ·样品的制备 | 第37页 |
| ·相结构(XRD)和微观结构分析 | 第37-38页 |
| ·介电与铁电性能分析 | 第38页 |
| ·实验结果与讨论 | 第38-43页 |
| ·物相XRD分析与微观结构(SEM)分析 | 第38-40页 |
| ·介电性能分析 | 第40-41页 |
| ·电滞回线 | 第41-42页 |
| ·老化性能分析 | 第42-43页 |
| ·小结 | 第43-44页 |
| 第五章 La~(3+)置换的BBN陶瓷 | 第44-53页 |
| ·引言 | 第44页 |
| ·实验与表征 | 第44-46页 |
| ·样品的制备 | 第44-45页 |
| ·陶瓷样品的性能测试与表征 | 第45-46页 |
| ·相结构与微观结构分析 | 第45页 |
| ·介电与铁电性能分析 | 第45页 |
| ·电导率测试 | 第45页 |
| ·径向相对收缩率测试 | 第45-46页 |
| ·实验结果与讨论 | 第46-52页 |
| ·陶瓷粉体预烧温度的确定及样品烧结特性 | 第46-47页 |
| ·X射线衍射(XRD)分析与微观结构(SEM)分析 | 第47-49页 |
| ·电导率 | 第49-50页 |
| ·介电性能 | 第50页 |
| ·介电老化性能研究 | 第50-52页 |
| ·小结 | 第52-53页 |
| 第六章 Sc~(3+)/Y~(3+)/Nd~(3+)置换的BBN陶瓷 | 第53-60页 |
| ·引言 | 第53页 |
| ·实验与测试 | 第53-54页 |
| ·实验结果与讨论 | 第54-59页 |
| ·X射线衍射(XRD)分析与微观结构(SEM)分析 | 第54-58页 |
| ·介电性能分析 | 第58-59页 |
| ·小结 | 第59-60页 |
| 第七章 结论与展望 | 第60-62页 |
| ·结论 | 第60-61页 |
| ·对今后工作的展望 | 第61-62页 |
| 参考文献 | 第62-67页 |
| 致谢 | 第67-68页 |
| 附录：攻读硕士学位期间发表的文章 | 第68页 |
