摘要 | 第1-6页 |
Abstract | 第6-9页 |
1 绪论 | 第9-17页 |
·论文研究背景与意义 | 第9-10页 |
·电磁发射技术及脉冲功率源技术概述 | 第10-13页 |
·电磁发射技术研究动态与现状 | 第10-11页 |
·脉冲功率源技术国内外发展现状与前景 | 第11-13页 |
·电磁兼容性设计概述 | 第13-16页 |
·电磁兼容性设计 | 第14-15页 |
·电磁兼容国内外研究动态与发展趋势 | 第15-16页 |
·论文主要研究内容 | 第16-17页 |
2 理论研究方法和仿真软件介绍 | 第17-26页 |
·电磁兼容性预测算法 | 第17-18页 |
·有限元原理概述及CST仿真软件介绍 | 第18-22页 |
·有限元原理及有限积分算法简介 | 第18-20页 |
·CST仿真环境概述 | 第20-22页 |
·电磁场性质 | 第22-25页 |
·电振荡 | 第22-23页 |
·磁振荡 | 第23-25页 |
·本章小结 | 第25-26页 |
3 脉冲电源模块磁场源分析及测控单元干扰预测分析 | 第26-34页 |
·脉冲电源模块磁场源与测控单元内部磁场分析 | 第27-30页 |
·测控单元干扰预测分析 | 第30-33页 |
·本章小结 | 第33-34页 |
4 脉冲强磁场环境下测控单元PCB仿真分析 | 第34-44页 |
·感应电压与电磁场关系 | 第34-35页 |
·测控单元PCB元器件抗干扰仿真分析 | 第35-43页 |
·脉冲电源放电电流信号拟合 | 第35-38页 |
·CST仿真结果分析 | 第38-43页 |
·本章小结 | 第43-44页 |
5 实验数据分析 | 第44-59页 |
·火花尖端高压放电环境对测控单元PCB元器件工作影响 | 第45-52页 |
·脉冲电源模块放电环境对测控单元PCB元器件工作影响 | 第52-58页 |
·本章小结 | 第58-59页 |
6 脉冲测控单元抗干扰措施 | 第59-67页 |
·干扰源来源分析 | 第59-60页 |
·强磁场环境下测控系统抗干扰措施 | 第60-66页 |
·脉冲电源模块的电磁兼容性研究 | 第60-63页 |
·测控电路设计及PCB制板的电磁兼容性研究 | 第63-66页 |
·本章小结 | 第66-67页 |
7 论文工作总结与展望 | 第67-69页 |
·论文主要研究工作与总结 | 第67-68页 |
·论文后续工作与展望 | 第68-69页 |
致谢 | 第69-70页 |
参考文献 | 第70-74页 |