| 中文摘要 | 第1-4页 |
| 英文摘要 | 第4-10页 |
| 1 绪论 | 第10-15页 |
| ·尺寸检测 | 第10-11页 |
| ·尺寸的单位：长度的定义 | 第10页 |
| ·长度单位的历史 | 第10-11页 |
| ·测试测量仪器的发展概况 | 第11-13页 |
| ·模拟仪器 | 第11-12页 |
| ·数字仪器 | 第12页 |
| ·智能仪器 | 第12页 |
| ·虚拟仪器 | 第12-13页 |
| ·长度检测技术现状 | 第13-14页 |
| ·本课题研究的意义 | 第14-15页 |
| 2 常用位移传感器及其原理 | 第15-21页 |
| ·引言 | 第15页 |
| ·模拟式位移传感器 | 第15-17页 |
| ·电阻应变式位移传感器 | 第15页 |
| ·电感式位移传感器 | 第15-17页 |
| ·电涡流式位移传感器 | 第17页 |
| ·数字式位移传感器 | 第17-21页 |
| ·磁栅式位移传感器 | 第17-18页 |
| ·光栅式位移传感器 | 第18-19页 |
| ·容栅式位移传感器 | 第19-21页 |
| 3 虚拟仪器技术 | 第21-29页 |
| ·虚拟仪器的概念 | 第21页 |
| ·虚拟仪器的硬件系统 | 第21-23页 |
| ·虚拟仪器的软件系统 | 第23页 |
| ·虚拟仪器的开发系统 | 第23-27页 |
| ·虚拟仪器的形成 | 第27-29页 |
| 4 统计过程控制原理 | 第29-40页 |
| ·引言 | 第29页 |
| ·SPC 技术概述 | 第29-30页 |
| ·常规控制图 | 第30-34页 |
| ·常规控制图简介 | 第30-31页 |
| ·控制图技术的数学原理 | 第31-32页 |
| ·控制图的核心技术之一：控制限的确定 | 第32-33页 |
| ·控制图的核心技术之二：工艺过程受控状态的判断规则 | 第33-34页 |
| ·应用常规控制图的基本步骤 | 第34页 |
| ·应用于尺寸检测的控制图 | 第34-37页 |
| ·“均值-标准偏差”控制图 | 第34-36页 |
| ·“均值-极差”控制图 | 第36-37页 |
| ·“单值-移动极差”控制图 | 第37页 |
| ·工序能力与工序能力指数 | 第37-40页 |
| ·工序能力 | 第37页 |
| ·工序能力指数 | 第37-38页 |
| ·实际工序能力指数 | 第38-40页 |
| 5 基于虚拟仪器的零件尺寸检测仪的研发 | 第40-54页 |
| ·系统总体结构 | 第40-41页 |
| ·数据采集及预处理 | 第41-43页 |
| ·容栅式电子千分表和容栅数据转接器 | 第41-42页 |
| ·参数设置 | 第42-43页 |
| ·传感器校准 | 第43页 |
| ·数据预处理 | 第43页 |
| ·数据存储 | 第43-47页 |
| ·MySQL 数据库及数据库的连接 | 第43-45页 |
| ·数据库中的表及其关系 | 第45-46页 |
| ·数据记录任务对话框 | 第46-47页 |
| ·数据显示与回放 | 第47-49页 |
| ·数据显示模块 | 第47-48页 |
| ·数据回放模块 | 第48-49页 |
| ·数据分析 | 第49-50页 |
| ·报表打印 | 第50-52页 |
| ·报表的基本内容 | 第50-51页 |
| ·报表的实现 | 第51-52页 |
| ·辅助功能 | 第52-54页 |
| 6 仪器实验举例 | 第54-60页 |
| 7 结论及改进方案 | 第60-62页 |
| ·结论 | 第60页 |
| ·改进方案 | 第60-62页 |
| 致谢 | 第62-63页 |
| 参考文献 | 第63-66页 |
| 附录：攻读硕士学位期间发表的论文 | 第66页 |