| 摘要 | 第1-16页 |
| ABSTRACT | 第16-21页 |
| 符号说明表 | 第21-23页 |
| 第一章 绪论 | 第23-50页 |
| ·电接触材料 | 第23-26页 |
| ·电接触材料的研究背景和现状 | 第23-25页 |
| ·银基导电陶瓷复合电接触材料 | 第25-26页 |
| ·电接触研究 | 第26-33页 |
| ·电弧理论 | 第26-31页 |
| ·等离子体诊断技术 | 第31-33页 |
| ·研究动态综述 | 第33-38页 |
| ·本论文的选题依据和研究意义 | 第38-39页 |
| 参考文献 | 第39-50页 |
| 第二章 银/导电陶瓷复合触点材料样品制备与性能测试 | 第50-63页 |
| ·引言 | 第50-51页 |
| ·材料成分设计 | 第51-52页 |
| ·材料制备工艺 | 第52-54页 |
| ·导电陶瓷粉料制备 | 第52页 |
| ·银/导电陶瓷复合粉料制备 | 第52-53页 |
| ·触点制备 | 第53-54页 |
| ·银/导电陶瓷复合触点材料性能测试与分析 | 第54-61页 |
| ·导电陶瓷的电阻温度曲线 | 第54-55页 |
| ·银/导电陶瓷复合材料的电阻率 | 第55页 |
| ·银/导电陶瓷复合材料的电阻压力曲线 | 第55-56页 |
| ·银/导电陶瓷复合材料的比热容 | 第56-57页 |
| ·电弧作用下导电陶瓷相结构的X衍射分析 | 第57-59页 |
| ·银/导电陶瓷复合材料的机械性能 | 第59-60页 |
| ·银/导电陶瓷复合材料和Ag/SnO_2材料的微观结构比较 | 第60-61页 |
| ·本章小结 | 第61页 |
| 参考文献 | 第61-63页 |
| 第三章 触点材料的时间分辨光电光谱诊断 | 第63-82页 |
| ·引言 | 第63-65页 |
| ·实验设计与过程 | 第65-67页 |
| ·测量系统 | 第65-66页 |
| ·样品设计 | 第66页 |
| ·测量设计 | 第66-67页 |
| ·实验目的 | 第67页 |
| ·时间分辨光电光谱的线形讨论 | 第67-69页 |
| ·复合触点材料的原子谱诊断结果与分析 | 第69-73页 |
| ·Ag Ⅰ 546.5nm谱线的时变光谱 | 第70-71页 |
| ·Ag Ⅰ 328.1nm谱线的时变光谱 | 第71-73页 |
| ·分析与讨论 | 第73页 |
| ·复合触点材料的离子谱诊断结果与分析 | 第73-78页 |
| ·Ag Ⅱ 478.8nm谱线的时变光谱 | 第74-75页 |
| ·Ag Ⅱ 243.8nm谱线的时变光谱 | 第75-77页 |
| ·分析与讨论 | 第77-78页 |
| ·本章小结 | 第78页 |
| 参考文献 | 第78-82页 |
| 第四章 触点材料的燃弧电压和烧蚀分析 | 第82-99页 |
| ·引言 | 第82-83页 |
| ·触点材料燃弧时间测试与讨论 | 第83-86页 |
| ·测试结果 | 第83-85页 |
| ·分析与讨论 | 第85-86页 |
| ·触点材料电弧烧蚀的质损分析 | 第86-88页 |
| ·测试结果 | 第86-87页 |
| ·分析与讨论 | 第87-88页 |
| ·触点材料烧蚀前后的形貌对比 | 第88-93页 |
| ·测试结果 | 第88-92页 |
| ·分析与讨论 | 第92-93页 |
| ·触点材料燃弧电压与光谱分析 | 第93-97页 |
| ·测试结果 | 第93-95页 |
| ·分析与讨论 | 第95-97页 |
| ·本章小结 | 第97页 |
| 参考文献 | 第97-99页 |
| 第五章 触点材料的扫描多波长光谱诊断 | 第99-120页 |
| ·引言 | 第99-101页 |
| ·实验设计与过程 | 第101-104页 |
| ·测量系统 | 第101-102页 |
| ·样品设计 | 第102页 |
| ·测量设计 | 第102-104页 |
| ·实验目的 | 第104页 |
| ·银/导电陶瓷材料扫描多波长光谱讨论 | 第104-108页 |
| ·银/导电陶瓷材料辐射高峰与导电陶瓷紫外吸收峰的对应 | 第104-106页 |
| ·银/导电陶瓷材料电弧光谱中多元素谱线分析 | 第106-108页 |
| ·复合触点材料中主要元素辐射对比 | 第108-109页 |
| ·改变触点工作参数时辐射强度变化 | 第109-112页 |
| ·电弧辐射强度在改变触点通断频率时的变化 | 第109-110页 |
| ·电弧辐射强度在改变触点间距时的变化 | 第110-111页 |
| ·电弧辐射强度在改变触点通断比时的变化 | 第111页 |
| ·电弧辐射强度在改变触点输入功率时的变化 | 第111-112页 |
| ·一定输入功率下不同材料辐射强度的变化 | 第112-115页 |
| ·Ag Ⅰ 546.5nm谱线分析 | 第115-116页 |
| ·不同输入功率时Ag Ⅰ 546.5nm谱强变化 | 第115页 |
| ·不同操作次数下Ag Ⅰ 546.5nm谱强变化 | 第115-116页 |
| ·本章小结 | 第116-118页 |
| 参考文献 | 第118-120页 |
| 第六章 曲线拟合与电子温度的测定 | 第120-134页 |
| ·引言 | 第120页 |
| ·等离子体分类 | 第120-122页 |
| ·按照温度分类 | 第120-121页 |
| ·按粒子密度分类 | 第121页 |
| ·按达到平衡的程度分类 | 第121-122页 |
| ·谱线展宽机制 | 第122-125页 |
| ·自然展宽 | 第123页 |
| ·多普勒展宽 | 第123-124页 |
| ·斯塔克展宽 | 第124页 |
| ·塞曼展宽 | 第124页 |
| ·仪器展宽 | 第124-125页 |
| ·触点电弧等离子体谱线的曲线拟合 | 第125-127页 |
| ·触点电弧等离子体电子温度的测定 | 第127-132页 |
| ·两线法测定电子温度及结果分析 | 第128-129页 |
| ·斜率法测定电子温度及结果分析 | 第129-132页 |
| ·本章小结 | 第132页 |
| 参考文献 | 第132-134页 |
| 论文总结 | 第134-139页 |
| 本论文的主要工作和成果 | 第134-137页 |
| 本论文的创新点 | 第137-138页 |
| 本研究的工作展望 | 第138-139页 |
| 附录 部分数据处理Matlab程序 | 第139-145页 |
| 致谢 | 第145-147页 |
| 攻读博士学位期间发表论文 | 第147-149页 |
| Paper One | 第149-157页 |
| Paper Two | 第157-167页 |
| 学位论文评阅及答辩情况表 | 第167页 |
