| 摘要 | 第1-5页 |
| ABSTRACT | 第5-9页 |
| 第一章 绪论 | 第9-18页 |
| ·问题的提出 | 第9-11页 |
| ·背景研究 | 第11-18页 |
| ·当前 TFT-LCD 产业背景研究 | 第11-13页 |
| ·背光模组结构介绍(B/L Introduction) | 第13-14页 |
| ·背光模组(B/L)不良所占比率分析 | 第14-15页 |
| ·基本抽样理论及当前国内外抽样方案介绍 | 第15-18页 |
| 第二章 背光模组(B/L)制造流程和特性识别 | 第18-20页 |
| ·背光模组(B/L)制造流程 | 第18页 |
| ·BLU 画面和外观检验条件和检验项目 | 第18-19页 |
| ·确定过程监控的项目 | 第19-20页 |
| 第三章 制程监控预警模型的建立 | 第20-30页 |
| ·P-Chart 的应用范围和原理 | 第20页 |
| ·制程监控状况与画面检验工站检验结果的一致性分析 | 第20-24页 |
| ·P-Chart 的绘制 | 第24-27页 |
| ·P-Chart 管制规则(Control Rule) | 第27页 |
| ·P-Chart 管制图的应用 | 第27-29页 |
| ·背光模组(B/L)识别 | 第29-30页 |
| 第四章 动态抽样方案建立 | 第30-49页 |
| ·最佳抽样批量值(N)的设定 | 第30-41页 |
| ·针对所设定的样本批量(N=240)建立相应的抽样方案 | 第41-49页 |
| ·常用计数型抽样检验方案介绍 | 第41页 |
| ·计数调整型抽样方案建立的步骤 | 第41-44页 |
| ·针对所设定的样本批量(N=240)建立计数调整型抽样方案 | 第44-45页 |
| ·抽样方案之间切换规则的建立 | 第45-49页 |
| 第五章 动态抽样检验系统方案评价 | 第49-64页 |
| ·独立母体变异数之统计检定 | 第49-51页 |
| ·抽样分配 | 第49-50页 |
| ·假设检定 | 第50-51页 |
| ·P 值检定 | 第51页 |
| ·L1 线与 L2 线产品画面品质变异数之检定 | 第51-53页 |
| ·以画面检验站和客户段检验数据评价两种抽样方案 | 第53-55页 |
| ·以 OC 曲线和AOQ 曲线评价两种抽样方案 | 第55-64页 |
| ·AOQ (Average Outgoing Quality) | 第55页 |
| ·OC (Operating Characteristic)曲线 | 第55页 |
| ·动态抽样方案的 OC 曲线和AOQ 曲线 | 第55-60页 |
| ·百分比抽样方案的 OC 曲线和AOQ 曲线 | 第60-61页 |
| ·两种抽样方案的 OC 曲线的比较 | 第61-62页 |
| ·两种抽样方案的 AOQL 曲线的比较 | 第62-64页 |
| 第六章 总结 | 第64-66页 |
| 参考文献 | 第66-67页 |
| 致谢 | 第67-68页 |
| 攻读学位期间发表的论文 | 第68页 |
