| 摘要 | 第1-5页 |
| Abstract | 第5-6页 |
| 第一章 概论与选题背景 | 第6-16页 |
| §1.1 磁记录原理及对介质的要求 | 第6-7页 |
| §1.2 磁记录薄膜的磁性能 | 第7-11页 |
| §1.3 磁记录材料的历史和发展现状 | 第11-14页 |
| §1.4 选题背景及动机 | 第14-16页 |
| 第二章 样品的制备及性能测试 | 第16-24页 |
| §2.1 样品的制备 | 第16-19页 |
| §2.2 薄膜样品的测试及原理 | 第19-24页 |
| 第三章 CoCrPt/Ag系列薄膜微结构和磁性能的研究 | 第24-43页 |
| §3.1 Ag缓冲层对CoCrPt薄膜磁性能和微结构的影响 | 第24-29页 |
| §3.2 退火温度对CoCrPt/Ag薄膜磁性能和微结构的影响 | 第29-34页 |
| §3.3 多层膜中Ag插层厚度对CoCrPt介质的取向和磁性能的影响 | 第34-39页 |
| §3.4 退火温度对多层膜的微结构和磁性能的影响 | 第39-43页 |
| 第四章 结论 | 第43-44页 |
| 参考文献 | 第44-46页 |
| 硕士期间发表论文情况 | 第46-47页 |
| 致谢 | 第47页 |