晶振测量卡PCI接口与测试软件设计
| 绪论 | 第1-13页 |
| ·引言 | 第10页 |
| ·石英晶振的测量原理 | 第10-11页 |
| ·本文研究的主要内容 | 第11-13页 |
| 第一章 测试卡测量原理 | 第13-25页 |
| ·石英晶振的理论模型 | 第13-18页 |
| ·晶振的频率特性 | 第13-14页 |
| ·晶振的线性模型 | 第14-15页 |
| ·晶振的电气参数 | 第15-16页 |
| ·晶振模型等效电路分析 | 第16-18页 |
| ·石英晶振的测量方法 | 第18-23页 |
| ·π型网络电气参数设计 | 第19-20页 |
| ·直流传输方法计算阻抗 | 第20-22页 |
| ·寄生参数修正 | 第22-23页 |
| ·系统设计指标 | 第23-25页 |
| 第二章 测试卡硬件组成 | 第25-39页 |
| ·测试卡的总体框图 | 第25-27页 |
| ·系统功能模块 | 第27-39页 |
| ·PCI 总线接口模块 | 第27-28页 |
| ·信号发生和信号调理模块 | 第28-31页 |
| ·增益相位检测和AD 转换模块 | 第31-35页 |
| ·控制和数据处理模块 | 第35-38页 |
| ·其他部分 | 第38-39页 |
| 第三章 PCI 接口与 CPLD 控制电路设计 | 第39-53页 |
| ·PCI 接口设计 | 第39-50页 |
| ·PCI 总线系统架构 | 第39-40页 |
| ·PCI 总线资源配置 | 第40-42页 |
| ·PCI 驱动框架 | 第42-44页 |
| ·PC12040 驱动程序设计 | 第44-50页 |
| ·CPLD 控制电路设计 | 第50-53页 |
| 第四章 晶振测试软件设计 | 第53-66页 |
| ·总体流程 | 第53-55页 |
| ·主机程序设计 | 第55-56页 |
| ·DSP 程序设计与数据处理 | 第56-66页 |
| ·DSP 资源配置 | 第56-57页 |
| ·DSP 程序流程 | 第57-58页 |
| ·测量数据校正 | 第58-60页 |
| ·晶振参数计算 | 第60-66页 |
| 第五章 系统调试 | 第66-79页 |
| ·模块调试 | 第66-76页 |
| ·PCI 接口调试 | 第66-68页 |
| ·信号发生和输出信号调理模块调试 | 第68-71页 |
| ·增益相位检测和 A/D 转换模块调试 | 第71-73页 |
| ·控制和数据处理模块调试 | 第73-75页 |
| ·电源模块和EMC/EMI 模块调试 | 第75-76页 |
| ·系统联调 | 第76-79页 |
| 结束语 | 第79-80页 |
| 参考文献 | 第80-83页 |
| 致谢 | 第83-84页 |
| 在校期间的研究成果 | 第84页 |
