| 摘要 | 第1-14页 |
| ABSTRACT | 第14-16页 |
| 第一章 前言 | 第16-27页 |
| 1．1 声子晶体的基本概念与基本特征 | 第17-20页 |
| 1．1．1 声子晶体的概念 | 第17页 |
| 1．1．2 声子晶体基本特征 | 第17-20页 |
| 1．2 声子晶体研究现况 | 第20-24页 |
| 1．2．1 研究概况 | 第20-21页 |
| 1．2．2 固/固体系二维声子晶体的研究现状 | 第21-22页 |
| 1．2．3 声子带隙的理论计算 | 第22-24页 |
| 1．3 课题的来源及其研究内容 | 第24-27页 |
| 1．3．1 课题的来源 | 第24页 |
| 1．3．2 选题依据及研究内容 | 第24-27页 |
| 第二章 理论部分 | 第27-45页 |
| 2．1 二维声子晶体的本征态及能带结构 | 第27-37页 |
| 2．1．1 波动方程 | 第27-30页 |
| 2．1．1．1 介质中声波传播的实质 | 第27-28页 |
| 2．1．1．2 弹性波波动方程 | 第28-30页 |
| 2．1．2 波动方程的本征值 | 第30-35页 |
| 2．1．2．1 位移矢量、密度及弹性常数的展开 | 第30-33页 |
| 2．1．2．2 波动方程的展开 | 第33-35页 |
| 2．1．3 二维声子晶体能带结构 | 第35-37页 |
| 2．2 理论模型的晶体学基础 | 第37-41页 |
| 2．2．1 三种点阵结构及其倒格矢 | 第37-39页 |
| 2．2．2 第一布里渊区 | 第39页 |
| 2．2．3 晶格点阵的平移对称性 | 第39-40页 |
| 2．2．4 三种填充物单元的结构因子及其填充分数 | 第40-41页 |
| 2．3 形状记忆效应 | 第41-44页 |
| 2．3．1 形状记忆效应的基本概念 | 第41-42页 |
| 2．3．2 形状记忆效应的微观机理 | 第42-44页 |
| 2．4 本章小结 | 第44-45页 |
| 第三章 带隙可调控型固/固二维声子晶体的带隙研究 | 第45-78页 |
| 3．1 带隙可调控型声子晶体带隙的研究方法 | 第45-46页 |
| 3．1．1 组分材料及其声学参数 | 第45页 |
| 3．1．2 带隙可调控型声子晶体研究方法 | 第45-46页 |
| 3．2 带隙可调控型声子晶体的带隙结构 | 第46-49页 |
| 3．3 带隙调控的影响因素 | 第49-76页 |
| 3．3．1 填充分数对带隙调控的影响 | 第49-61页 |
| 3．3．1．1 正方点阵，圆柱形填充物单元 | 第49-53页 |
| 3．3．1．2 正三角点阵，圆柱形填充物单元 | 第53-57页 |
| 3．3．1．3 六方点阵，圆柱形填充物单元 | 第57-61页 |
| 3．3．2 点阵结构对带隙调控的影响 | 第61-71页 |
| 3．3．2．1 圆柱形填充物单元 | 第61-66页 |
| 3．3．2．2 正棱柱填充物单元(正方形截面) | 第66-68页 |
| 3．3．2．3 正棱柱填充物单元(正方形旋转45°截面) | 第68-71页 |
| 3．3．3 填充物单元形状对带隙调控的影响 | 第71-76页 |
| 3．3．3．1 正方形点阵 | 第71-73页 |
| 3．3．3．2 正三角形点阵 | 第73-74页 |
| 3．3．3．3 六方点阵 | 第74-76页 |
| 3．4 本章小结 | 第76-78页 |
| 第四章 带隙可调控型固/固二维声子晶体验证性实验 | 第78-90页 |
| 4．1 声子晶体设计 | 第78-79页 |
| 4．2 样品制备 | 第79-82页 |
| 4．2．1 原料准备与工艺探索 | 第79-80页 |
| 4．2．2 制备过程 | 第80-82页 |
| 4．3 带隙测试与结果分析 | 第82-88页 |
| 4．3．1 带隙测试 | 第82-83页 |
| 4．3．2 测试结果分析 | 第83-84页 |
| 4．3．3 测试结果与计算结果对比分析 | 第84-88页 |
| 4．4 本章小结 | 第88-90页 |
| 第五章 结论 | 第90-92页 |
| 第六章 工作展望 | 第92-93页 |
| 致谢 | 第93-94页 |
| 参考文献 | 第94-98页 |
| 攻读硕士学位期间发表的学术论文 | 第98页 |