第一章 绪论 | 第1-26页 |
·面向电机控制数字信号处理器研究背景 | 第12-22页 |
·数字信号处理器内核的设计 | 第12-14页 |
·面向电机控制数字信号处理器 | 第14-16页 |
·可测试性技术 | 第16-18页 |
·数字信号处理器测试策略与算法研究 | 第18-22页 |
·本文的主要工作和目的 | 第22-25页 |
·论文的安排 | 第25-26页 |
第二章 数字信号处理器内核的设计 | 第26-52页 |
·面向电机控制数字信号处理器内核的体系结构 | 第26-28页 |
·中央算术逻辑单元设计 | 第28-33页 |
·乘法器单元设计 | 第33-39页 |
·移位器单元设计 | 第39-40页 |
·辅助寄存器算术单元设计 | 第40-42页 |
·程序排序器设计 | 第42-44页 |
·中断的设计 | 第44-49页 |
·小结 | 第49-52页 |
第三章 面向算法功能的并行结构的数字信号处理器的设计思想 | 第52-71页 |
·问题的提出 | 第52页 |
·数字信号处理器结构的发展 | 第52-53页 |
·并行指令的相关性处理方法 | 第53-62页 |
·指令的并行性 | 第53-54页 |
·并行指令的静态调度 | 第54-59页 |
·动态调度的设计方法 | 第59-60页 |
·处理转移相关的设计方法 | 第60-62页 |
·面向算法的数字信号处理器并行功能指令设计 | 第62-66页 |
·处理器对问题求解的思想分析 | 第62-65页 |
·并行功能指令的设计思想 | 第65-66页 |
·并行功能指令设计方法 | 第66-70页 |
·算子的设计 | 第66-67页 |
·并行功能指令加工规则 | 第67-69页 |
·并行功能指令加工方法 | 第69-70页 |
·小结 | 第70-71页 |
第四章 、 电机控制电路的设计 | 第71-99页 |
·电机控制芯片设计综述 | 第71-72页 |
·空间矢量控制和直流无刷电机120电角度换相控制算法电路实现 | 第72-85页 |
·空间欠量控制算法 | 第72-76页 |
·120电角度换相控制算法 | 第76-79页 |
·空间矢量和120电角度换相控制电路设计 | 第79-85页 |
·电机闭环控制专用电路 | 第85-90页 |
·电机控制专用电路 | 第85-88页 |
·捕获电路设计 | 第88-89页 |
·正交解码脉冲(QEP)电路 | 第89页 |
·死区单元设计 | 第89-90页 |
·状态机与数据流相结合通讯电路的设计 | 第90-98页 |
·异步串行通信接口特点和设计 | 第90-91页 |
·发送数据单元 | 第91-94页 |
·接收数据单元 | 第94-98页 |
·小结 | 第98-99页 |
第五章 数字信号处理器结构可测试性设计 | 第99-113页 |
·面向电机控制的数字信号处理器可测性设计策略 | 第99-100页 |
·边界扫描结构的建立 | 第100-106页 |
·边界扫描单元结构及总体结构设计 | 第100-105页 |
·数字信号处理器的访问 | 第105-106页 |
·全扫描链的建立 | 第106-111页 |
·交迭测试体系 | 第106-109页 |
·单扫描链的构造 | 第109-111页 |
·试验结果 | 第111页 |
·小结 | 第111-113页 |
第六章 数字信号处理器内核的功能测试 | 第113-143页 |
·有向图理论 | 第113-118页 |
·微处理器的表示 | 第113-115页 |
·指令执行故障模型 | 第115-118页 |
·测试算法 | 第118-125页 |
·电机控制数字信号处理器结构与指令集 | 第119-120页 |
·单条指令测试策略 | 第120-123页 |
·自测试 | 第123-125页 |
·传输数据与运算数据的测试 | 第125-128页 |
·传输数据测试 | 第125-127页 |
·运算数据的测试 | 第127-128页 |
·寄存器的测试 | 第128-131页 |
·特殊功能寄存器的测试 | 第128-129页 |
·通用寄存器的测试算法 | 第129-131页 |
·指令相关性分析 | 第131-135页 |
·流水线的测试 | 第135-139页 |
·数字信号处理器中断测试 | 第139-141页 |
·电机控制数字信号处理器测试统计结果 | 第141页 |
·小结 | 第141-143页 |
第七章 总结与展望 | 第143-146页 |
参考文献 | 第146-155页 |
致谢 | 第155-156页 |
攻读博士期间发表的论文 | 第156页 |