| 摘要 | 第1-9页 |
| ABSTRACT | 第9-10页 |
| 第一章 绪论 | 第10-16页 |
| ·集成电路(INTEGRATE CIRCUIT)的发展 | 第10-11页 |
| ·系统级芯片SoC(SYSTEM ON CHIP)概述 | 第11-13页 |
| ·国内外微处理器的研究现状 | 第13页 |
| ·超大规模集成电路设计流程 | 第13-16页 |
| 第二章 高性能低功耗嵌入式处理器C*CORE系列介绍 | 第16-23页 |
| ·C*CORE简绍 | 第16-17页 |
| ·CK520微结构介绍 | 第17-23页 |
| ·取指单元(IFU) | 第18页 |
| ·整数单元(IU) | 第18页 |
| ·存取单元(LSU) | 第18-19页 |
| ·乘除处理单元(MAD) | 第19页 |
| ·处理器控制单元(CPO) | 第19-20页 |
| ·总线接口单元(BIU) | 第20-21页 |
| ·硬件调试单元(HAD) | 第21-22页 |
| ·存储器保护单元(MGU) | 第22-23页 |
| 第三章 随机指令测试在CK520处理器功能验证中的应用 | 第23-25页 |
| 第四章 静态随机指令测试 | 第25-38页 |
| ·静态随机指令测试的工作流程 | 第25页 |
| ·静态随机指令测试的框图 | 第25页 |
| ·静态随机指令测试的优点 | 第25-26页 |
| ·静态随机指令测试语法定义 | 第26-38页 |
| ·命令行定义 | 第26-27页 |
| ·测试文件语法 | 第27-38页 |
| ·保留区域定义 | 第27-28页 |
| ·单行保留定义 | 第28页 |
| ·多行注释 | 第28-29页 |
| ·单行注释定义 | 第29页 |
| ·集合定义 | 第29-30页 |
| ·变量定义 | 第30-32页 |
| ·循环结构定义 | 第32-33页 |
| ·标签定义 | 第33页 |
| ·打印调试信息 | 第33-34页 |
| ·指令产生 | 第34页 |
| ·设置load／store指令操作的存储空间范围 | 第34-35页 |
| ·中断(快速中断)产生 | 第35页 |
| ·获得指令的地址 | 第35-36页 |
| ·在测试文件中嵌入verilog语句 | 第36页 |
| ·宏定义语句 | 第36-37页 |
| ·包含其他的测试文件 | 第37页 |
| ·提供了与C和Verilog的接口 | 第37-38页 |
| 第五章 动态随机指令测试 | 第38-41页 |
| ·静态随机指令测试的不足 | 第38页 |
| ·PLI(PROGRAM LANGUAGE INTERFACE)介绍 | 第38页 |
| ·动态随机指令测试的原理 | 第38-39页 |
| ·动态随机指令测试的框图 | 第39-40页 |
| ·动态随机指令测试的优点 | 第40-41页 |
| 第六章 项目测试结果 | 第41-45页 |
| ·测试环境 | 第41页 |
| ·测试效果 | 第41-45页 |
| 第七章 总结和展望 | 第45-46页 |
| 附录 | 第46-53页 |
| 附录1 静态随机指令测试脚本例子 | 第46-53页 |
| 参考文献 | 第53-55页 |
| 个人简历 | 第55-56页 |
| 作者在研究生阶段发表的论文 | 第56-57页 |
| 致谢 | 第57页 |
