低轮廓天线尺寸缩减技术研究
摘要 | 第1-6页 |
ABSTRACT | 第6-10页 |
第一章 绪论 | 第10-14页 |
·研究背景 | 第10页 |
·国内外研究的现状 | 第10-12页 |
·背腔式微带缝隙天线的发展现状 | 第10-11页 |
·基片集成波导的研究现状 | 第11页 |
·天线阵列馈电网络的研究现状 | 第11-12页 |
·RFID 标签天线研究现状 | 第12页 |
·本文的主要研究内容和结构安排 | 第12-14页 |
第二章 天线的基本理论 | 第14-19页 |
·天线的基本电参数 | 第14-19页 |
·方向性函数 | 第14-15页 |
·方向图 | 第15-16页 |
·方向性系数 | 第16页 |
·天线增益 | 第16-17页 |
·天线的极化 | 第17页 |
·天线的阻抗 | 第17-18页 |
·天线的带宽 | 第18页 |
·天线的效率 | 第18-19页 |
第三章 基于 SIW 结构的背腔缝隙天线 | 第19-34页 |
·基片集成波导理论 | 第19-26页 |
·基片集成波导基本结构 | 第19页 |
·基片集成波导的传输特性 | 第19-22页 |
·基片集成波导与传输线间的转换 | 第22-24页 |
·基片集成波导宽边缝隙特性分析 | 第24-26页 |
·基片集成波导背腔缝隙天线设计 | 第26-28页 |
·天线的介质材料参数 | 第27页 |
·天线尺寸大小的确定 | 第27-28页 |
·天线的馈电方式 | 第28页 |
·天线辐射缝隙参数的确定 | 第28页 |
·基片集成波导背腔缝隙天线结果分析 | 第28-31页 |
·SIW 背腔缝隙天线的回波损耗 | 第29页 |
·辐射缝隙对背腔天线性能的影响 | 第29-30页 |
·SIW 背腔缝隙天线辐射方向图 | 第30-31页 |
·窄边馈电 SIW 背腔缝隙天线设计 | 第31-34页 |
第四章 基于 FSIW 结构的背腔缝隙天线 | 第34-44页 |
·折叠基片集成波导理论 | 第34-35页 |
·C 型折叠基片集成波导 | 第34-35页 |
·T 型折叠基片集成波导 | 第35页 |
·折叠基片集成波导的特性公式 | 第35-36页 |
·折叠基片集成波导背腔缝隙天线设计 | 第36-44页 |
·C 型 FSIW 背腔缝隙天线设计 | 第37-39页 |
·C 型 FSIW 缝隙耦合背腔缝隙天线设计 | 第39-41页 |
·T 型 FSIW 背腔缝隙天线设计 | 第41-44页 |
第五章 阵列天线的设计 | 第44-60页 |
·天线阵列理论 | 第44-49页 |
·方向图相乘原理 | 第44-45页 |
·二元阵 | 第45-47页 |
·一维均匀直线阵 | 第47-48页 |
·二维均匀阵 | 第48-49页 |
·阵列天线的馈电网络 | 第49-53页 |
·并联馈电 | 第50-51页 |
·串联馈电 | 第51页 |
·混合馈电 | 第51-52页 |
·四分之一波长阻抗变换器 | 第52-53页 |
·阵列天线设计 | 第53-60页 |
·二元阵列天线设计 | 第53-57页 |
·二维四元阵列天线设计 | 第57-60页 |
第六章 RFID 天线小型化技术研究 | 第60-78页 |
·RFID 标签天线与芯片阻抗的匹配 | 第60-62页 |
·标签芯片端口阻抗分析 | 第60-61页 |
·标签的阻抗匹配 | 第61-62页 |
·标签最大读取距离 | 第62-63页 |
·标签天线的小型化技术 | 第63-65页 |
·弯折线结构 | 第63-64页 |
·末端容性加载 | 第64页 |
·分形技术 | 第64-65页 |
·标签天线的匹配技术 | 第65-66页 |
·横条加载 | 第65页 |
·感性耦合 | 第65-66页 |
·容性耦合 | 第66页 |
·串联短截线馈电 | 第66页 |
·T-匹配网络 | 第66页 |
·弯折偶极子标签天线的设计 | 第66-71页 |
·T 型结长度 L2对天线阻抗的影响 | 第68-69页 |
·T 型结宽度 W2对天线阻抗的影响 | 第69-70页 |
·标签天线宽度 W1对天线 S11 的影响 | 第70-71页 |
·标签天线的辐射方向图 | 第71页 |
·抗金属标签天线的设计 | 第71-78页 |
·微带天线的小型化技术 | 第72-73页 |
·RFID 抗金属标签的设计 | 第73-76页 |
·开槽尺寸对 S11 的影响 | 第76-78页 |
第七章 总结与展望 | 第78-79页 |
致谢 | 第79-80页 |
参考文献 | 第80-84页 |
附录 | 第84-85页 |
详细摘要 | 第85-89页 |