| 摘要 | 第1-4页 |
| ABSTRACT | 第4-13页 |
| 第一章 绪论 | 第13-24页 |
| ·课题背景及意义 | 第13-14页 |
| ·国内外技术研究与发展状况 | 第14-21页 |
| ·经典统计学小样本评估方法研究状况 | 第16-18页 |
| ·基于Bayes 方法的可靠性小样本评估方法现状 | 第18-21页 |
| ·目前小样本可靠性评估方法存在的不足 | 第21-22页 |
| ·本文主要研究内容 | 第22-24页 |
| 第二章 引入继承因子的Bayes 方法可靠度置信下限研究 | 第24-44页 |
| ·引言 | 第24页 |
| ·继承因子的概念与作用 | 第24-27页 |
| ·继承因子的概念 | 第24页 |
| ·继承因子对验前分布的影响 | 第24-27页 |
| ·引入继承因子后的验前Beta 分布 | 第25页 |
| ·引入继承因子后的验前Gamma 分布 | 第25-26页 |
| ·继承因子对验前分布的影响分析 | 第26-27页 |
| ·二项分布 | 第27-36页 |
| ·经典统计学的可靠度置信下限 | 第27页 |
| ·基于Bayes 方法的置信下限推导 | 第27-31页 |
| ·验前分布为均匀分布（无信息验前） | 第28-29页 |
| ·验前分布为Beta 分布 | 第29-30页 |
| ·带继承因子的验前Beta 分布 | 第30-31页 |
| ·验前超参数对Bayes 验后概率密度的影响 | 第31-33页 |
| ·成败型试验算例分析 | 第33-36页 |
| ·经典统计学法计算结果 | 第34页 |
| ·验前均匀分布Bayes 法计算结果 | 第34页 |
| ·验前Beta 分布Bayes 法计算结果 | 第34页 |
| ·带继承因子的验前Beta 分布Bayes 法计算结果 | 第34-36页 |
| ·指数分布 | 第36-42页 |
| ·定数截尾 | 第37-40页 |
| ·基于经典统计学的可靠度置信下限 | 第38页 |
| ·基于Bayes 方法的可靠度置信下限推导 | 第38-40页 |
| ·指数分布算例分析 | 第40-42页 |
| ·经典统计学可靠度置信下限 | 第40页 |
| ·Bayes 法可靠度置信下限 | 第40页 |
| ·带继承因子的Bayes 方法可靠度置信下限 | 第40-41页 |
| ·指数分布算例小结 | 第41-42页 |
| ·本章小结 | 第42-44页 |
| 第三章 加速寿命技术在减少试验样本中的应用 | 第44-71页 |
| ·引言 | 第44页 |
| ·平均寿命与样本数的权衡 | 第44-50页 |
| ·指数分布 | 第44-47页 |
| ·定数截尾 | 第44-45页 |
| ·定时截尾 | 第45-47页 |
| ·Weibull 分布 | 第47-50页 |
| ·定数截尾 | 第48-49页 |
| ·有替换定时截尾 | 第49-50页 |
| ·加速寿命与试验时间的权衡 | 第50-60页 |
| ·寿命与应力的关系模型简介 | 第50-51页 |
| ·Arrhenius 模型 | 第50-51页 |
| ·逆幂律模型 | 第51页 |
| ·加速因子 | 第51-53页 |
| ·指数分布的加速因子 | 第52页 |
| ·Weibull 分布的加速因子 | 第52-53页 |
| ·恒定应力加速模型的统计分析 | 第53-60页 |
| ·指数分布 | 第53-56页 |
| ·Weibull 分布加速寿命试验 | 第56-60页 |
| ·算例分析 | 第60-70页 |
| ·指数分布算例 | 第60-64页 |
| ·四种应力水平下寿命分布检验 | 第60页 |
| ·加速模型参数估计 | 第60-62页 |
| ·指数分布加速试验结果及分析 | 第62-64页 |
| ·Weibull 分布算例 | 第64-70页 |
| ·Weibull 分布检验 | 第64-65页 |
| ·Weibull 分布参数估计 | 第65-66页 |
| ·形状参数相等检验 | 第66页 |
| ·形状参数加权处理 | 第66页 |
| ·特征寿命修正 | 第66页 |
| ·加速模型参数估计 | 第66-68页 |
| ·Weibull 分布加速试验结果及分析 | 第68-70页 |
| ·本章小结 | 第70-71页 |
| 第四章 考虑过程能力指数的试验样本选择模型 | 第71-84页 |
| ·引言 | 第71页 |
| ·可靠度与关键特征之间函数关系推导 | 第71-76页 |
| ·关键工序及过程能力指数简介 | 第72-73页 |
| ·关键特征联合分布密度函数 | 第73-74页 |
| ·关键特征6 σ设计条件下的联合分布 | 第74-75页 |
| ·可靠度与关键特征的函数关系 | 第75-76页 |
| ·基于百分位秩的样本选择模型 | 第76-77页 |
| ·连续分布的置信限 | 第76-77页 |
| ·样本选择模型 | 第77页 |
| ·算例分析 | 第77-83页 |
| ·基于百分位秩统计学所需样本数 | 第78页 |
| ·拟合直径与对数寿命之间的关系 | 第78-79页 |
| ·建立关键特征分布密度函数 | 第79页 |
| ·建立寿命分布函数 | 第79-80页 |
| ·建立可靠度与寿命分布函数之间的关系 | 第80页 |
| ·可靠度与过程能力指数的关系 | 第80-81页 |
| ·结果分析 | 第81-83页 |
| ·本章小结 | 第83-84页 |
| 第五章 全文总结与展望 | 第84-86页 |
| ·本文主要结论及创新点 | 第84-85页 |
| ·主要结论 | 第84-85页 |
| ·创新点 | 第85页 |
| ·研究展望 | 第85-86页 |
| 参考文献 | 第86-91页 |
| 致谢 | 第91-92页 |
| 在学期间发表的学术论文 | 第92-93页 |
| 附录1 成败型试验经典统计学可靠度置信下限推导 | 第93-94页 |
| 附录2 指数分布有替换定时截尾平均寿命置信下限推导 | 第94-95页 |
| 附录3 最大标准差法可靠寿命置信下限推导 | 第95-97页 |
| 附录4 最大变异系数法可靠寿命置信下限推导 | 第97-99页 |
| 附录5 单侧容限系数法可靠寿命置信下限推导 | 第99-101页 |
| 附录6 基于Bayes 方法的正态分布可靠寿命置信下限推导 | 第101-103页 |
| 附录7 指数分布无替换定时截尾可靠度置信下限推导 | 第103-104页 |
| 附录8 Weibull 分布定数截尾可靠度置信下限推导 | 第104-106页 |
| 附表1 极值分布最佳线性无偏估计系数表 | 第106-107页 |
| 附表2 相关系数检验临界值表 | 第107页 |
