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数字电路软错误防护方法研究

摘要第1-9页
Abstract第9-10页
致谢第10-17页
第一章 引言第17-31页
   ·软错误防护技术的背景介绍第17-22页
     ·基本概念第17-19页
     ·软错误率的评价标准第19页
     ·软错误率的决定因素第19-21页
     ·软错误率持续攀升的原因第21-22页
   ·软错误防护技术的研究动态第22-28页
     ·软错误的防护对象第22-23页
     ·软错误的防护层次第23-28页
     ·软错误防护技术的发展趋势第28页
   ·本文的研究内容和组织结构第28-31页
     ·研究内容第28-30页
     ·组织结构第30-31页
第二章 晶体管级软错误防护技术概述第31-43页
   ·电路级软错误的建模计算方法第31-35页
     ·双指数电流干扰脉冲第31-32页
     ·电路级的软错误建模方法第32-33页
     ·HSPICE模拟器第33-35页
     ·PTM器件模型第35页
   ·组合逻辑单元的软错误防护方法第35-37页
     ·基于C单元的软错误防护方法第35-36页
     ·基于CWSP单元的软错误防护方法第36-37页
   ·时序逻辑单元的软错误防护方法第37-41页
     ·标准静态锁存器第37-38页
     ·TMR-Latch锁存器第38页
     ·DICE单元第38-40页
     ·SDT单元第40-41页
   ·本章小结第41-43页
第三章 软错误防护的DIL-SET单元第43-55页
   ·DIL-SET单元的原理与实现第43-45页
   ·SEU防护试验与防护效果分析第45-49页
     ·SEU故障注入实验第45页
     ·软错误敏感性分析第45-46页
     ·面积开销分析第46-48页
     ·性能开销分析第48-49页
   ·SET防护试验与防护效果分析第49-52页
     ·基于时差的SET防护原理第49-50页
     ·面积开销分析第50-51页
     ·性能开销分析第51-52页
   ·本章小结第52-55页
第四章 门级网表的软错误防护研究第55-67页
   ·门级网表的软错误防护流程第55-56页
   ·软错误注入方法第56-58页
   ·软错误率计算第58-63页
     ·软错误率衰减的影响因素第58-60页
     ·软错误率衰减的深层原因第60-61页
     ·软错误率计算方法综述第61-63页
   ·基于部分加固的软错误防护第63-65页
   ·本章小结第65-67页
第五章 基于扫描链复用的软错误防护技术第67-85页
   ·SEMRSC技术概述第67-72页
     ·Intel公司的BISER技术第67-69页
     ·ESFF-SED和ESFF-SEC技术第69-72页
   ·容软错误的BIST结构第72-84页
     ·CBILBO结构第72-73页
     ·FT-CBIBLO结构第73-76页
     ·FT-CBIBLO的定性分析第76-77页
     ·FT-CBIBLO的定量分析第77-78页
     ·FT-CBIBLO的功能扩展: SET-CBILBO第78-80页
     ·FT-CBIBLO的功能扩展: X0R-CBILBO第80-81页
     ·FT-CBIBLO的功能扩展: TMR-CBILBO第81-84页
   ·本章小结第84-85页
第六章 有限状态机的软错误防护技术研究第85-99页
   ·基于回卷恢复的自恢复有限状态机研究第85-90页
     ·回卷自恢复FSM第85-87页
     ·基于门控时钟的自恢复FSM: CG-FSM第87-89页
     ·CG-FSM的定性分析第89页
     ·CG-FSM的定量分析第89-90页
   ·基于状态机拆分的自恢复FSM研究第90-98页
     ·状态机拆分的背景知识第90-91页
     ·基于状态机拆分的自恢复FSM: De-FSM第91-94页
     ·De-FSM的性能开销和面积开销分析第94-97页
     ·De-FSM的软错误防护性能分析第97-98页
   ·本章小结第98-99页
第七章 总结与展望第99-101页
   ·全文总结第99-100页
   ·对未来工作的展望第100-101页
参考文献第101-108页
攻读博士学位期间发表的学术论文第108-109页
攻读博士学位期间参加的科研项目第109页
攻读博士学位期间申请的专利第109页

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