平面近场测量技术及误差分析
| 摘要 | 第1-9页 |
| Abstract | 第9-10页 |
| 第一章 绪论 | 第10-17页 |
| ·研究背景 | 第10-11页 |
| ·天线测量与近场测量技术 | 第11-13页 |
| ·近场测量技术的发展 | 第13-16页 |
| ·本论文的研究内容及作者的主要工作 | 第16-17页 |
| 第二章 平面近场测量的基本原理 | 第17-35页 |
| ·天线近场测量的基本概念 | 第17页 |
| ·天线近场测量的基本理论 | 第17-21页 |
| ·近场扫描技术 | 第17-18页 |
| ·天线场的平面波展开理论 | 第18-21页 |
| ·由近场数据计算远场方向图 | 第21-29页 |
| ·不考虑探头补偿的情况 | 第21-22页 |
| ·考虑探头补偿的近远场变换 | 第22-29页 |
| ·扫描面参数选择与近场数据处理 | 第29-33页 |
| ·扫描面尺寸选择 | 第29页 |
| ·测试距离d的选择 | 第29-30页 |
| ·采样间隔的选取 | 第30-31页 |
| ·近场测量中二维Fourier变换的计算 | 第31-33页 |
| ·本章小结 | 第33-35页 |
| 第三章 平面近场测量系统设计 | 第35-53页 |
| ·系统硬件组成和工作原理 | 第35-42页 |
| ·系统硬件结构 | 第35页 |
| ·系统工作原理 | 第35-36页 |
| ·扫描架子系统 | 第36-38页 |
| ·射频子系统配置 | 第38-39页 |
| ·系统伺服控制芯片MPC08 | 第39-42页 |
| ·系统软件结构和设计原理 | 第42-51页 |
| ·软件需求分析 | 第42-43页 |
| ·系统软件界面和模板 | 第43-45页 |
| ·软件设计结构和流程介绍 | 第45-48页 |
| ·一些关键技术介绍 | 第48-50页 |
| ·测量实例 | 第50-51页 |
| ·本章小结 | 第51-53页 |
| 第四章 平面近场测量误差分析 | 第53-71页 |
| ·远场测量误差的定义 | 第54-56页 |
| ·电场相对误差的定义 | 第54页 |
| ·副瓣电平（SLL）测量误差的定义 | 第54-56页 |
| ·有限扫描面截断误差分析 | 第56-58页 |
| ·有限扫描面截断误差产生的近场误差分析 | 第56-57页 |
| ·扫描面截断误差产生的远场误差分析 | 第57-58页 |
| ·探头位置误差引入的误差分析 | 第58-59页 |
| ·探头位置误差引入的近场误差 | 第58-59页 |
| ·探头位置误差引入的远场误差 | 第59页 |
| ·多次反射误差产生的远场误差分析 | 第59-61页 |
| ·测试仪器误差分析 | 第61-62页 |
| ·平面近场测量误差的计算机仿真分析 | 第62-70页 |
| ·模型介绍 | 第62-66页 |
| ·采样间距引起的混叠误差仿真分析 | 第66-67页 |
| ·扫描面截断误差仿真分析 | 第67-68页 |
| ·探头定位误差仿真分析 | 第68-70页 |
| ·本章小结 | 第70-71页 |
| 结束语 | 第71-73页 |
| 致谢 | 第73-74页 |
| 参考文献 | 第74-80页 |
| 作者在学期间取得的学术成果 | 第80页 |
