| 摘要 | 第1-6页 |
| ABSTRACT | 第6-10页 |
| 第1章 绪论 | 第10-16页 |
| ·研究背景与意义 | 第10-13页 |
| ·国内外研究背景与现状 | 第13-14页 |
| ·本文研究内容与结构安排 | 第14-16页 |
| 第2章 混沌基本理论及一些混沌系统的分析 | 第16-27页 |
| ·混沌学的起源和发展 | 第16-17页 |
| ·混沌的定义 | 第17-18页 |
| ·混沌的特性 | 第18-20页 |
| ·Lyapunov 指数 | 第18-19页 |
| ·分岔现象 | 第19页 |
| ·高度的初值敏感特性 | 第19页 |
| ·长时间不可预测性 | 第19-20页 |
| ·混沌吸引子 | 第20页 |
| ·轨道不稳定性 | 第20页 |
| ·内随机特性[50] | 第20页 |
| ·混沌方程与混沌映射 | 第20-26页 |
| ·连续混沌方程 | 第20-22页 |
| ·改进的连续混沌系统 | 第22-25页 |
| ·离散混沌映射 | 第25-26页 |
| ·本章小结 | 第26-27页 |
| 第3章 新的超混沌系统的设计与电路实现 | 第27-35页 |
| ·新的超混沌系统的构造 | 第27-32页 |
| ·对称性 | 第28页 |
| ·平衡点及稳定性 | 第28页 |
| ·耗散性 | 第28-29页 |
| ·吸引子相图 | 第29-30页 |
| ·Lyapunov 指数谱和分岔图 | 第30-32页 |
| ·超混沌系统的电路实现 | 第32-34页 |
| ·本章小结 | 第34-35页 |
| 第4章 基于FPGA 的混沌PN 序列的实现和性能分析 | 第35-47页 |
| ·EDA 技术简介 | 第35-37页 |
| ·FPGA 设计方法与开发流程 | 第35-36页 |
| ·引入DSP Builder | 第36-37页 |
| ·混沌系统的数字化 | 第37-39页 |
| ·混沌系统的硬件实现 | 第39-42页 |
| ·混沌PN 序列性能分析 | 第42-46页 |
| ·产生PN 序列的硬件基础 | 第42-44页 |
| ·随机性测试 | 第44-46页 |
| ·本章小结 | 第46-47页 |
| 第5章 一些比较成熟的（超）混沌PN 序列的比较 | 第47-61页 |
| ·频率测试（Frequency test） | 第47-49页 |
| ·各个系统x(i)的FT 性能 | 第47-48页 |
| ·各个系统y(i)的FT 性能 | 第48页 |
| ·各个系统z(i)的FT 性能 | 第48-49页 |
| ·串列测试（Serial test） | 第49-51页 |
| ·各个系统x(i)的ST 性能 | 第49-50页 |
| ·各个系统y(i)的ST 性能 | 第50-51页 |
| ·各个系统z(i)的ST 性能 | 第51页 |
| ·Poker 测试（Poker test） | 第51-55页 |
| ·各个系统x(i)的PT 性能 | 第52-53页 |
| ·各个系统y(i)的PT 性能 | 第53-54页 |
| ·各个系统z(i)的PT 性能 | 第54-55页 |
| ·游程测试（Runs test） | 第55-57页 |
| ·各个系统x(i)的RT 性能 | 第55-56页 |
| ·各个系统y(i)的RT 性能 | 第56页 |
| ·各个系统z(i)的RT 性能 | 第56-57页 |
| ·自相关测试（Autocorrelation test） | 第57-60页 |
| ·各个系统x(i)的AT 性能 | 第57-58页 |
| ·各个系统y(i)的AT 性能 | 第58-59页 |
| ·各个系统z(i)的AT 性能 | 第59-60页 |
| ·本章小结 | 第60-61页 |
| 第6章 基于混沌的PN 序列发生器的可行性 | 第61-63页 |
| 第7章 总结 | 第63-65页 |
| ·本文工作总结 | 第63-64页 |
| ·前景展望 | 第64-65页 |
| 致谢 | 第65-66页 |
| 参考文献 | 第66-70页 |
| 附录 | 第70页 |