综合孔径微波辐射成像系统关键技术研究
| 摘要 | 第1-6页 |
| Abstract | 第6-11页 |
| 1 绪论 | 第11-26页 |
| ·研究背景及目的意义 | 第11-16页 |
| ·国内外研究概况 | 第16-24页 |
| ·论文研究内容及结构安排 | 第24-26页 |
| 2 综合孔径微波辐射成像原理与系统概述 | 第26-51页 |
| ·引言 | 第26页 |
| ·相关干涉测量原理 | 第26-34页 |
| ·综合孔径阵列成像原理 | 第34-38页 |
| ·综合孔径阵列方向图特性 | 第38-43页 |
| ·综合孔径微波辐射计试验样机系统 | 第43-49页 |
| ·本章小结 | 第49-51页 |
| 3 综合孔径辐射计非理想性误差分析与误差校正方法 | 第51-93页 |
| ·引言 | 第51-53页 |
| ·可见度函数离散和带限采样的误差分析 | 第53-57页 |
| ·系统误差分析和建模 | 第57-75页 |
| ·系统误差校正方法 | 第75-92页 |
| ·本章小结 | 第92-93页 |
| 4 综合孔径微波辐射计图像反演算法 | 第93-124页 |
| ·引言 | 第93-94页 |
| ·傅立叶反演法 | 第94-97页 |
| ·综合孔径图像重建问题的数学模型与病态特性 | 第97-103页 |
| ·应用正则化的G矩阵反演法 | 第103-112页 |
| ·G矩阵反演法的试验研究 | 第112-122页 |
| ·本章小结 | 第122-124页 |
| 5 综合孔径微波辐射亮温图像的指标与质量评估 | 第124-143页 |
| ·引言 | 第124-125页 |
| ·综合孔径图像分辨率 | 第125-129页 |
| ·综合孔径图像灵敏度 | 第129-137页 |
| ·综合孔径图像信噪比 | 第137-142页 |
| ·本章小结 | 第142-143页 |
| 6 全文总结与展望 | 第143-146页 |
| ·全文总结 | 第143-144页 |
| ·展望 | 第144-146页 |
| 致谢 | 第146-147页 |
| 参考文献 | 第147-159页 |
| 附录1 攻读博士期间发表的主要论文 | 第159-161页 |
| 附录2 攻读博士期间申请的专利 | 第161页 |
