| 摘要 | 第5-7页 |
| Abstract | 第7-9页 |
| 第1章 绪论 | 第15-28页 |
| 1.1 课题背景及研究意义 | 第15-16页 |
| 1.2 电压稳定剂的分类与作用机理 | 第16-18页 |
| 1.3 电压稳定剂研究进展 | 第18-26页 |
| 1.3.1 大分子化电压稳定剂 | 第18-19页 |
| 1.3.2 理论化学计算在电压稳定剂研究中的应用 | 第19-22页 |
| 1.3.3 电压稳定剂与无机纳米颗粒的复配使用 | 第22-24页 |
| 1.3.4 电压稳定剂及类似有机添加剂对直流绝缘性能的影响 | 第24-26页 |
| 1.4 课题来源与本文主要研究内容 | 第26-28页 |
| 第2章 电压稳定剂的筛选方法 | 第28-38页 |
| 2.1 电压稳定剂的筛选原则与方法 | 第28-31页 |
| 2.1.1 电压稳定剂的筛选原则 | 第28页 |
| 2.1.2 电压稳定剂的筛选方法 | 第28-31页 |
| 2.2 理论化学计算与直流击穿强度测试结果 | 第31-35页 |
| 2.3 电压稳定剂量子化学特性与其直流击穿强度关系 | 第35-37页 |
| 2.4 本章小结 | 第37-38页 |
| 第3章 电压稳定剂接枝对XLPE交流绝缘性能影响 | 第38-66页 |
| 3.1 电压稳定剂对XLPE交流电树枝性能影响 | 第38-46页 |
| 3.1.1 电压稳定剂对XLPE交流电树枝起始电压影响 | 第38-41页 |
| 3.1.2 电压稳定剂对XLPE交流电树枝生长特性影响 | 第41-45页 |
| 3.1.3 电压稳定剂抑制XLPE交流电树枝引发与生长的机理分析 | 第45-46页 |
| 3.2 电压稳定剂对XLPE交流击穿强度与电老化性能影响 | 第46-50页 |
| 3.3 电压稳定剂对XLPE介电性能影响 | 第50-52页 |
| 3.4 电压稳定剂接枝对XLPE基础理化性能影响 | 第52-64页 |
| 3.4.1 红外光谱法验证ALRB的可接枝性 | 第52-54页 |
| 3.4.2 ALRB接枝对XLPE结晶性能影响 | 第54-57页 |
| 3.4.3 ALRB接枝对XLPE交联性能影响 | 第57-63页 |
| 3.4.4 ALRB接枝对XLPE机械与热氧老化性能影响 | 第63-64页 |
| 3.5 本章小结 | 第64-66页 |
| 第4章 电压稳定剂接枝对XLPE直流绝缘性能影响 | 第66-88页 |
| 4.1 接枝型电压稳定剂耐迁出性验证 | 第66-69页 |
| 4.2 试样制备与测试方法 | 第69-71页 |
| 4.2.1 试样制备 | 第69页 |
| 4.2.2 直流击穿强度与电导特性测试方法 | 第69-70页 |
| 4.2.3 空间电荷特性测试方法 | 第70-71页 |
| 4.3 电压稳定剂接枝对XLPE直流击穿强度影响 | 第71-74页 |
| 4.3.1 直流击穿强度测试结果 | 第71-72页 |
| 4.3.2 电压稳定剂提高XLPE击穿强度机理分析 | 第72-74页 |
| 4.4 电压稳定剂接枝对XLPE电导特性影响 | 第74-78页 |
| 4.4.1 电导特性测试结果 | 第74-77页 |
| 4.4.2 电压稳定剂对XLPE电导特性影响机理 | 第77-78页 |
| 4.5 电压稳定剂接枝对XLPE空间电荷特性影响 | 第78-87页 |
| 4.5.1 空间电荷特性测试结果 | 第78-82页 |
| 4.5.2 电压稳定剂接枝对空间电荷特性影响机理 | 第82-87页 |
| 4.6 本章小结 | 第87-88页 |
| 第5章 电压稳定剂接枝对XLPE直流接地电树枝性能影响 | 第88-102页 |
| 5.1 直流接地电树枝实验方法 | 第88-89页 |
| 5.2 电压与添加剂含量对XLPE直流接地电树枝性能影响 | 第89-92页 |
| 5.2.1 电压与添加剂含量对XLPE直流接地电树枝引发的影响 | 第89-90页 |
| 5.2.2 电压与添加剂含量对XLPE直流接地电树枝生长的影响 | 第90-92页 |
| 5.3 不同温度下的直流接地电树枝性能 | 第92-97页 |
| 5.3.1 不同温度下电压稳定剂对XLPE直流接地电树枝引发的影响 | 第92-93页 |
| 5.3.2 不同温度下电压稳定剂对XLPE直流接地电树枝生长的影响 | 第93-97页 |
| 5.4 电压稳定剂抑制直流接地电树枝机理分析 | 第97-100页 |
| 5.5 本章小结 | 第100-102页 |
| 结论 | 第102-104页 |
| 参考文献 | 第104-114页 |
| 博士学位期间的学术成果 | 第114-115页 |
| 致谢 | 第115页 |
