| 摘要 | 第4-6页 |
| ABSTRACT | 第6-7页 |
| 第一章 绪论 | 第11-23页 |
| 1.1 研究背景与意义 | 第11-12页 |
| 1.2 加速寿命试验技术研究现状 | 第12-20页 |
| 1.2.1 加速寿命试验方法及发展研究概况 | 第12-16页 |
| 1.2.2 加速寿命试验中统计模型研究概况 | 第16-19页 |
| 1.2.3 加速寿命试验数据统计分析方法研究概况 | 第19-20页 |
| 1.3 电连接器可靠性研究现状及存在的问题 | 第20-21页 |
| 1.4 本文研究工作 | 第21-23页 |
| 1.4.1 研究目标 | 第21页 |
| 1.4.2 主要研究内容 | 第21-23页 |
| 第二章 电连接器贮存环境下的失效机理分析 | 第23-35页 |
| 2.1 引言 | 第23页 |
| 2.2 电连接器的结构与功能 | 第23-25页 |
| 2.2.1 常用电连接器的结构与功能 | 第23-24页 |
| 2.2.2 Y11P-1419型电连接器的结构 | 第24-25页 |
| 2.3 电连接器贮存环境效应分析 | 第25-27页 |
| 2.3.1 电连接器贮存剖面分析 | 第25-26页 |
| 2.3.2 电连接器贮存环境效应分析 | 第26-27页 |
| 2.4 电连接器贮存环境下的失效模式分析 | 第27-28页 |
| 2.5 电连接器贮存环境下的失效机理分析 | 第28-34页 |
| 2.5.1 电连接器的接触电阻 | 第28-29页 |
| 2.5.2 电连接器振动应力下的失效机理分析 | 第29-31页 |
| 2.5.3 电连接器温度和插拔应力下的失效机理分析 | 第31-33页 |
| 2.5.4 电连接器在振动、温度和插拔组合应力作用下的失效机理分析 | 第33-34页 |
| 2.6 本章小结 | 第34-35页 |
| 第三章 电连接器的贮存可靠性建模 | 第35-48页 |
| 3.1 引言 | 第35页 |
| 3.2 电连接器的接触性能退化模型和加速退化方程 | 第35-43页 |
| 3.2.1 电连接器的接触性能退化模型 | 第35-37页 |
| 3.2.2 电连接器在振动应力下的接触性能退化模型和加速退化方程 | 第37-39页 |
| 3.2.3 电连接器在温度和插拔应力下的接触性能退化模型和加速退化方程 | 第39-43页 |
| 3.3 电连接器的接触失效寿命分布 | 第43-47页 |
| 3.4 本章小结 | 第47-48页 |
| 第四章 电连接器组合应力加速寿命试验方案设计 | 第48-59页 |
| 4.1 引言 | 第48页 |
| 4.2 电连接器振动加速试验阶段的试验方案设计 | 第48-50页 |
| 4.2.1 振动应力水平设计 | 第48-49页 |
| 4.2.2 振动加速试验的总时间 | 第49-50页 |
| 4.3 电连接器温度和插拔加速试验阶段的试验方案设计 | 第50-53页 |
| 4.3.1 温度应力水平设计 | 第50页 |
| 4.3.2 插拔次数设计 | 第50-51页 |
| 4.3.3 温度加速试验的总时间 | 第51-53页 |
| 4.4 电连接器组合应力加速寿命试验方案的确定 | 第53-58页 |
| 4.4.1 电连接器组合应力加速寿命试验方案 | 第53-55页 |
| 4.4.2 电连接器的失效判据与测试方法 | 第55-58页 |
| 4.5 本章小结 | 第58-59页 |
| 第五章 电连接器组合应力加速寿命试验的统计分析 | 第59-70页 |
| 5.1 引言 | 第59页 |
| 5.2 电连接器组合应力加速寿命试验数据 | 第59-60页 |
| 5.3 电连接器组合应力加速寿命试验的统计分析 | 第60-66页 |
| 5.3.1 振动加速试验阶段的统计分析 | 第61-62页 |
| 5.3.2 温度和插拔加速试验阶段的统计分析 | 第62-66页 |
| 5.3.3 电连接器的贮存可靠性评估 | 第66页 |
| 5.4 电连接器组合应力加速寿命试验的应力效应分析 | 第66-69页 |
| 5.5 本章小结 | 第69-70页 |
| 第六章 总结与展望 | 第70-72页 |
| 6.1 总结 | 第70-71页 |
| 6.2 展望 | 第71-72页 |
| 参考文献 | 第72-78页 |
| 附录：部分试验数据 | 第78-82页 |
| 攻读硕士期间的研究成果 | 第82-83页 |
| 致谢 | 第83页 |
