| 摘要 | 第4-5页 |
| ABSTRACT | 第5-6页 |
| 第一章 绪论 | 第9-18页 |
| 1.1 本课题的研究背景及意义 | 第9-10页 |
| 1.2 无损检测技术的分类和特点 | 第10-14页 |
| 1.2.1 射线检测 | 第11页 |
| 1.2.2 超声检测 | 第11-12页 |
| 1.2.3 磁粉检测 | 第12页 |
| 1.2.4 渗透检测 | 第12页 |
| 1.2.5 涡流检测 | 第12-13页 |
| 1.2.6 相控阵超声检测 | 第13-14页 |
| 1.3 国内外研究现状 | 第14-16页 |
| 1.4 本文的主要研究内容 | 第16-18页 |
| 第二章 相控阵超声检测系统的检测原理及关键技术 | 第18-27页 |
| 2.1 超声换能器 | 第19-21页 |
| 2.2 相控阵检测的关键技术 | 第21-24页 |
| 2.2.1 相控延时的实现 | 第21-23页 |
| 2.2.2 相控聚焦及偏转 | 第23-24页 |
| 2.3 缺陷的判断和定位 | 第24-25页 |
| 2.4 相控阵超声检测技术的优点和局限性 | 第25-26页 |
| 2.5 本章小结 | 第26-27页 |
| 第三章 超声检测系统硬件发射及采集总体方案 | 第27-30页 |
| 3.1 超声检测系统的设计要求及硬件总体设计方案 | 第27-28页 |
| 3.2 硬件系统主要功能模块简介 | 第28-29页 |
| 3.2.1 超声发射模块 | 第28页 |
| 3.2.2 超声接收处理模块 | 第28-29页 |
| 3.2.3 FPGA控制及外围的数据存储模块 | 第29页 |
| 3.3 本章小结 | 第29-30页 |
| 第四章 相控阵超声检测系统的硬件设计 | 第30-56页 |
| 4.1 超声激励脉冲发射电路 | 第30-34页 |
| 4.1.1 发射电路的设计 | 第30-33页 |
| 4.1.2 发射电路相控延时的实现 | 第33-34页 |
| 4.2 相控阵超声回波信号的接收 | 第34-41页 |
| 4.2.1 回波信号的隔离 | 第35-36页 |
| 4.2.2 可调增益放大电路 | 第36-38页 |
| 4.2.3 回波信号的滤波设计 | 第38-39页 |
| 4.2.4 数模转换模块 | 第39-41页 |
| 4.3 LVDS信号传输原理 | 第41-42页 |
| 4.4 主控模块及数据缓存模块 | 第42-48页 |
| 4.4.1 FPGA的选型 | 第43页 |
| 4.4.2 多片FPGA的配置电路设计 | 第43-46页 |
| 4.4.3 高速大容量数据缓存设计 | 第46-48页 |
| 4.5 基于DSP Builder的回波信号数字滤波 | 第48页 |
| 4.6 电源管理方案的设计 | 第48-51页 |
| 4.6.1 高压电源的设计 | 第49页 |
| 4.6.2 系统其他逻辑电源的设计 | 第49-51页 |
| 4.7 硬件系统的PCB实现 | 第51-55页 |
| 4.7.1 硬件板卡的板层设置 | 第52页 |
| 4.7.2 硬件板卡的布局 | 第52-54页 |
| 4.7.3 硬件板卡的布线 | 第54-55页 |
| 4.8 本章小结 | 第55-56页 |
| 第五章 硬件系统的验证和实验 | 第56-64页 |
| 5.1 相控阵超声检测装置 | 第56-59页 |
| 5.2 高压脉冲激励信号实验 | 第59-60页 |
| 5.3 回波信号的隔离接收实验 | 第60-61页 |
| 5.4 回波信号放大实验 | 第61-62页 |
| 5.5 缺陷检测的上位机显示 | 第62-63页 |
| 5.6 本章小结 | 第63-64页 |
| 第六章 总结展望 | 第64-66页 |
| 参考文献 | 第66-70页 |
| 发表论文和参加科研情况说明 | 第70-71页 |
| 致谢 | 第71-72页 |