| 摘要 | 第5-6页 |
| Abstract | 第6页 |
| 第一章 绪论 | 第9-13页 |
| 1.1 背景及研究的目的和意义 | 第9-11页 |
| 1.2 中等导电性材料电磁屏蔽效能的现有研究方法 | 第11-12页 |
| 1.3 论文研究的主要工作及创新点 | 第12-13页 |
| 第二章 CST微波工作室介绍及应用 | 第13-20页 |
| 2.1 CST微波工作室介绍 | 第13页 |
| 2.2 CST微波工作室的应用 | 第13-20页 |
| 2.2.1 无限大导体板屏蔽效能计算表达式 | 第13-17页 |
| 2.2.2 无限大导体板屏蔽效能表达式计算结果与CST计算结果对比 | 第17-20页 |
| 第三章 中等导电性材料的工频电场和工频磁场屏蔽效能的试验研究 | 第20-31页 |
| 3.1 材料工频屏蔽效能测试的相关测试方法概况 | 第20-21页 |
| 3.2 材料工频电场屏蔽效能的试验研究 | 第21-27页 |
| 3.2.1 测试方法和装置 | 第21-22页 |
| 3.2.2 试验结果 | 第22-27页 |
| 3.3 材料工频磁场屏蔽效能的试验研究 | 第27-29页 |
| 3.3.1 测试方法和装置 | 第27页 |
| 3.3.2 试验结果 | 第27-29页 |
| 3.4 小结 | 第29-31页 |
| 第四章 中等导电性材料的电磁屏蔽效能的试验研究 | 第31-41页 |
| 4.1 材料电磁屏蔽效能测试的相关标准概况 | 第31-32页 |
| 4.1.1 屏蔽室法 | 第31页 |
| 4.1.2 法兰同轴法 | 第31-32页 |
| 4.2 材料电磁屏蔽效能的试验研究 | 第32-40页 |
| 4.2.1 屏蔽室法 | 第32-38页 |
| 4.2.2 法兰同轴法 | 第38-40页 |
| 4.3 小结 | 第40-41页 |
| 第五章 中等导电性材料电磁屏蔽效能测试方法的改进研究 | 第41-50页 |
| 5.1 材料电磁屏蔽效能测试现有标准方法的局限性 | 第41页 |
| 5.1.1 屏蔽室法 | 第41页 |
| 5.1.2 法兰同轴法 | 第41页 |
| 5.2 中等导电性材料电磁屏蔽效能测试方法的改进方案 | 第41-49页 |
| 5.2.1 原理 | 第41-44页 |
| 5.2.2 屏蔽效能分析 | 第44-45页 |
| 5.2.3 相对屏蔽效能 | 第45-48页 |
| 5.2.4 相对屏蔽效能的解释 | 第48-49页 |
| 5.3 小结 | 第49-50页 |
| 第六章 结论和下一步工作 | 第50-52页 |
| 6.1 结论 | 第50-51页 |
| 6.2 下一步工作 | 第51-52页 |
| 参考文献 | 第52-55页 |
| 攻读硕士学位期间发表的论文及其他成果 | 第55-56页 |
| 致谢 | 第56页 |
