基于FTIR的红外光纤损耗谱特性测试系统研究
| 目录 | 第3-5页 |
| 摘要 | 第5-6页 |
| Abstract | 第6-7页 |
| 第一章 绪论 | 第8-15页 |
| 1.1 引言 | 第8页 |
| 1.2 红外光纤发展历程 | 第8页 |
| 1.3 红外光纤的分类 | 第8-9页 |
| 1.4 红外空芯光纤典型结构 | 第9-12页 |
| 1.5 红外空芯光纤的应用 | 第12-13页 |
| 1.6 本文研究重点及目的 | 第13-15页 |
| 第二章 光纤制作及理论计算 | 第15-26页 |
| 2.1 引言 | 第15页 |
| 2.2 介质/金属膜结构泄露型空芯光纤制作工艺 | 第15-19页 |
| 2.2.1 传统Ag/无机介质膜光纤的制作工艺 | 第16-19页 |
| 2.2.2 Ag/有机介质膜光纤制作工艺 | 第19页 |
| 2.3 ATR型空芯光纤制作工艺 | 第19-21页 |
| 2.4 空芯光纤理论计算 | 第21-25页 |
| 2.4.1 空芯光纤传输损耗 | 第21-22页 |
| 2.4.2 空芯光纤弯曲损耗 | 第22-23页 |
| 2.4.3 空芯光纤介质膜粗糖度的影响 | 第23-25页 |
| 2.5 小结 | 第25-26页 |
| 第三章 基于FTIR的测试系统的搭建及验证 | 第26-31页 |
| 3.1 引言 | 第26页 |
| 3.2 FTIR系统光路的改进和搭建 | 第26-27页 |
| 3.3 耦合器的选择 | 第27-28页 |
| 3.4 测试系统的验证 | 第28-30页 |
| 3.5 小结 | 第30-31页 |
| 第四章 损耗谱理论计算及实际测量 | 第31-45页 |
| 4.1 引言 | 第31页 |
| 4.2 耦合器出射端光强分布情况 | 第31-32页 |
| 4.3 耦合器出射端光线发散角计算 | 第32-33页 |
| 4.4 空芯光纤损耗谱的理论计算 | 第33-35页 |
| 4.5 泄露型空芯光纤损耗谱的理论值及测量值 | 第35-37页 |
| 4.6 全反型空芯光纤损耗谱的理论值及测量值 | 第37-43页 |
| 4.6.1 GeO_2膜空芯玻璃光纤损耗谱的讨论 | 第37-40页 |
| 4.6.2 空芯蓝宝石光纤损耗谱的讨论 | 第40-43页 |
| 4.7 小结 | 第43-45页 |
| 第五章 总结与展望 | 第45-48页 |
| 5.1 主要工作和结论 | 第45页 |
| 5.2 主要创新点 | 第45页 |
| 5.3 下一步工作展望 | 第45-48页 |
| 参考文献 | 第48-52页 |
| 硕士期间论文发表情况 | 第52-53页 |
| 致谢 | 第53-54页 |
