| 摘要 | 第5-7页 |
| abstract | 第7-8页 |
| 第一章 绪论 | 第12-40页 |
| 1.1 课题背景及意义 | 第12-23页 |
| 1.1.1 同步辐射光源概述 | 第12-13页 |
| 1.1.2 上海光源及其束流诊断系统概述 | 第13-15页 |
| 1.1.3 上海光源截面尺寸测量系统 | 第15-18页 |
| 1.1.4 上海光源六维逐束团诊断系统 | 第18-22页 |
| 1.1.5 课题研究意义 | 第22-23页 |
| 1.2 国内外研究现状 | 第23-37页 |
| 1.2.1 截面尺寸测量常用方法 | 第23-24页 |
| 1.2.2 高速截面尺寸测量方案 | 第24-36页 |
| 1.2.2.1 美国康奈尔大学电子储存环实验室方案 | 第25-29页 |
| 1.2.2.2 俄罗斯布德克尔核物理实验室方案 | 第29-34页 |
| 1.2.2.3 合肥光源截面测量方案 | 第34-36页 |
| 1.2.3 其他高速截面尺寸相关方案 | 第36-37页 |
| 1.3 论文主要内容及创新点 | 第37-40页 |
| 第二章 上海光源逐束团截面尺寸测量系统 | 第40-88页 |
| 2.1 光学成像系统 | 第40-52页 |
| 2.1.1 上海光源同步光引出及铍镜形变问题 | 第40-45页 |
| 2.1.2 基于可见光直接成像光学系统 | 第45-49页 |
| 2.1.3 系统成像倍数及点扩散函数讨论 | 第49-52页 |
| 2.2 高速光电探测及信号调理系统 | 第52-63页 |
| 2.2.1 高速光电转换的要求 | 第52-55页 |
| 2.2.2 光电倍增管阵列探头 | 第55-56页 |
| 2.2.3 探头供电与信号引出模块 | 第56-60页 |
| 2.2.4 信号放大调理 | 第60-63页 |
| 2.3 信号采集系统 | 第63-70页 |
| 2.3.1 信号采集系统要求 | 第63-65页 |
| 2.3.2 基于示波器的信号采集方案 | 第65-66页 |
| 2.3.3 基于多板卡同步的商业采集板卡方案 | 第66-70页 |
| 2.4 数据处理 | 第70-81页 |
| 2.4.1 软件重采样算法 | 第71-72页 |
| 2.4.2 原始数据PCA降噪 | 第72-77页 |
| 2.4.3 位置及尺寸计算 | 第77-81页 |
| 2.5 系统性能评估 | 第81-86页 |
| 2.5.1 信号时间响应评估 | 第81-84页 |
| 2.5.2 通道一致性评估 | 第84-86页 |
| 2.6 本章小结 | 第86-88页 |
| 第三章 对注入瞬态过程的分析 | 第88-116页 |
| 3.1 典型单次注入分析 | 第88-104页 |
| 3.1.1 注入过程背景 | 第88-89页 |
| 3.1.2 注入过程捕捉 | 第89-91页 |
| 3.1.3 系统各参数自洽性 | 第91-93页 |
| 3.1.4 注入振荡时域分析 | 第93-97页 |
| 3.1.5 注入振荡频谱分析 | 第97-99页 |
| 3.1.6 位置尺寸振荡模式分析 | 第99-102页 |
| 3.1.7 储存环阻尼时间计算 | 第102-104页 |
| 3.2 BPM的注入数据同步分析 | 第104-107页 |
| 3.3 逐束团位置尺寸的PCA分析 | 第107-109页 |
| 3.4 上海光源中的应用：不同运行周期注入性能比较 | 第109-114页 |
| 3.5 本章小结 | 第114-116页 |
| 第四章 结论与展望 | 第116-124页 |
| 4.1 本文总结 | 第116-118页 |
| 4.2 工作展望 | 第118-124页 |
| 4.2.1 系统分辨率评估 | 第118-120页 |
| 4.2.2 多通道系统升级 | 第120页 |
| 4.2.3 新算法探索以及在线数据处理 | 第120-124页 |
| 参考文献 | 第124-132页 |
| 致谢 | 第132-134页 |
| 作者简历及攻读学位期间发表的学术论文与研究成果 | 第134页 |