摘要 | 第4-5页 |
Abstract | 第5-6页 |
第1章 绪论 | 第9-16页 |
1.1 课题背景 | 第9-10页 |
1.2 声子晶体简介 | 第10-12页 |
1.2.1 声子晶体概念及分类 | 第10-11页 |
1.2.2 声子晶体研究概述 | 第11-12页 |
1.3 国内外研究现状 | 第12-15页 |
1.3.1 声子晶体理论研究 | 第12-14页 |
1.3.2 声子晶体应用研究 | 第14-15页 |
1.4 本文主要研究内容 | 第15-16页 |
第2章 声子晶体理论基础及能带算法 | 第16-32页 |
2.1 晶体几何及能带论 | 第16-19页 |
2.1.1 晶格及其周期性 | 第16-19页 |
2.1.2 布洛赫定理及能带论 | 第19页 |
2.2 布拉格散射型声子晶体能带理论 | 第19-27页 |
2.2.1 布拉格散射型声子晶体理论基础 | 第19-21页 |
2.2.2 一维二组元声子晶体能带结构计算 | 第21-24页 |
2.2.3 一维四组元声子晶体能带结构计算 | 第24-27页 |
2.3 局域共振型声子晶体能带理论 | 第27-31页 |
2.4 本章小结 | 第31-32页 |
第3章 声子晶体带隙影响因素分析及参数确定 | 第32-41页 |
3.1 一维二组元声子晶体带隙影响因素分析 | 第32-34页 |
3.1.1 结构参数对声子晶体带隙影响分析 | 第32-33页 |
3.1.2 材料参数对声子晶体带隙影响分析 | 第33-34页 |
3.2 一维四组元声子晶体带隙影响因素分析 | 第34-37页 |
3.2.1 添加层厚度对局域共振声子晶体带隙影响分析 | 第35页 |
3.2.2 添加层材料参数对局域共振声子晶体带隙影响分析 | 第35-37页 |
3.3 局域共振声子晶体带隙影响因素分析 | 第37-39页 |
3.3.1 材料参数对局域共振声子晶体带隙影响分析 | 第37-38页 |
3.3.2 结构参数对局域共振声子晶体带隙影响分析 | 第38-39页 |
3.4 本章小结 | 第39-41页 |
第4章 声子晶体隔声性能仿真分析 | 第41-52页 |
4.1 声子晶体隔声仿真方法 | 第41-42页 |
4.1.1 隔声仿真原理 | 第41-42页 |
4.1.2 隔声仿真环境 | 第42页 |
4.2 布拉格散射型声子晶体隔声仿真分析 | 第42-45页 |
4.2.1 布拉格散射型声子晶体仿真模型 | 第42-43页 |
4.2.2 布拉格散射型声子晶体隔声仿真结果 | 第43-45页 |
4.3 局域共振型声子晶体隔声仿真分析 | 第45-51页 |
4.3.1 局域共振型声子晶体仿真模型 | 第45-46页 |
4.3.2 局域共振型声子晶体隔声仿真结果分析 | 第46-48页 |
4.3.3 局域共振声子晶体模态分析 | 第48-51页 |
4.4 本章小结 | 第51-52页 |
第5章 局域共振声子晶体隔声性能实验 | 第52-69页 |
5.1 局域共振型声子晶体制造 | 第52-55页 |
5.1.1 局域共振型声子晶体组元材料选择 | 第52-54页 |
5.1.2 局域共振型声子晶体样品制备 | 第54-55页 |
5.2 声子晶体隔声实验测试系统 | 第55-59页 |
5.2.1 隔声实验效果的描述 | 第55-56页 |
5.2.2 实验硬件设备 | 第56页 |
5.2.3 实验方案及过程 | 第56-59页 |
5.3 声子晶体插入损失实验结果分析 | 第59-62页 |
5.3.1 散射体密度对隔声性能的影响 | 第60-61页 |
5.3.2 包覆层厚度对隔声性能的影响 | 第61-62页 |
5.4 声子晶体隔声实验结果与仿真计算对比及误差分析 | 第62-68页 |
5.4.1 隔声仿真数据的 1/3 倍频程及 A 计权处理 | 第62-64页 |
5.4.2 声子晶体隔声效果对比分析 | 第64-66页 |
5.4.3 误差分析 | 第66-68页 |
5.5 本章小结 | 第68-69页 |
结论 | 第69-70页 |
参考文献 | 第70-75页 |
致谢 | 第75页 |